[发明专利]一种测试智能卡的方法及读卡器

说明书

本发明公开了一种测试智能卡的方法及读卡器，所述方法包括：读卡器接收来自上位机的指令，当接收到来自上位机的第一测试指令后，根据第一测试指令得到准备指令；向智能卡发送准备指令；获取来自智能卡的准备应答；根据准备应答向上位机报告第一测试应答；当接收到来自上位机的第二测试指令后，根据第二测试指令得到防冲突指令；向智能卡发送防冲突指令；获取来自智能卡的防冲突应答；根据防冲突应答向上位机报告第二测试应答，当接收到来自上位机的第三测试指令后，根据第三测试指令得到选择指令；向智能卡发送选择指令；获取来自智能卡的选择应答；根据选择应答向上位机报告第三测试应答，本发明使非接智能卡的测试变得可控，简单。

技术领域

本发明涉及智能卡领域，特别涉及一种测试智能卡的方法及读卡器。

背景技术

现有技术中，读卡器直接将预设的准备指令、防冲突指令和选择指令发送给非接智能卡，并且读卡器发送每条指令后均不向外部返回相应指令的应答结果，因此如果出现读卡器和非接智能卡通讯异常的情况，外部无法得知非接智能卡在哪个指令环节中出现问题。并且由于现有技术中的读卡器，对预设的准备指令、防冲突指令和选择指令的发送都有严格的时间控制，从而又增加了测试非接智能卡的难度。

发明内容

本发明提供了一种测试智能卡的方法及读卡器，解决了上述技术问题。

本发明提供了一种测试智能卡的方法，包括：

步骤s1：读卡器接收来自上位机的指令，当接收到来自上位机的第一测试指令后，执行步骤s2；当接收到来自上位机的第二测试指令后，执行步骤s4；当接收到来自上位机的第三测试指令后，执行步骤s6；

步骤s2：所述读卡器根据所述第一测试指令得到包括准备参数的准备指令；向智能卡发送所述准备指令；获取来自所述智能卡的准备应答；

步骤s3：所述读卡器根据所述准备应答向所述上位机报告第一测试应答，返回步骤s1；

步骤s4：所述读卡器根据所述第二测试指令得到包括串联级别参数、有效数据参数和卡标识参数的防冲突指令；向智能卡发送所述防冲突指令；获取来自所述智能卡的防冲突应答；

步骤s5：所述读卡器根据所述防冲突应答向所述上位机报告第二测试应答，返回步骤s1；

步骤s6：所述读卡器根据所述第三测试指令得到包括第一校验值、串联级别参数、有效数据参数和卡标识参数的选择指令；向智能卡发送所述选择指令；获取来自所述智能卡的选择应答；

步骤s7：所述读卡器根据所述选择应答向所述上位机报告第三测试应答，返回步骤s1。

本发明还提供了一种测试智能卡的读卡器，包括：第一接收模块、第二接收模块、第三接收模块、准备指令模块、防冲突指令模块、选择指令模块、第一发送模块、第二发送模块、第三发送模块、第一获取模块、第二获取模块、第三获取模块、第一报告模块、第二报告模块和第三报告模块；

所述第一接收模块，用于接收来自上位机的第一测试指令；

所述第二接收模块，用于接收来自上位机的第二测试指令；

所述第三接收模块，用于接收来自上位机的第三测试指令；

所述准备指令模块，用于根据所述第一接收模块接收到的所述第一测试指令得到包括准备参数的准备指令；

所述防冲突指令模块，用于根据所述第二接收模块接收到的所述第二测试指令得到包括串联级别参数、有效数据参数和卡标识参数的防冲突指令；

所述选择指令模块，用于根据所述第三接收模块接收到的所述第三测试指令得到包括第一校验值、串联级别参数、有效数据参数和卡标识参数的选择指令；

所述第一发送模块，用于向智能卡发送所述准备指令；