[发明专利]一种检测电路

说明书

本发明提供一种检测电路，该检测电路包括第一检测线组，包括多条主检测线，所述第一检测线组与显示面板连接；第二检测线组，包括多条副检测线，所述第二检测线组与所述第一检测线组相对设置；所述第二检测线组与所述显示面板连接；配向线组，包括多条配向线，所述配向线组分别与所述第一检测线组和所述第二检测线组连接；控制模块，用于在对所述显示面板进行检测时，使得所述第一检测线组和所述第二检测线组断开连接。本发明的检测电路，能够提高显示面板的不良检出率，进而提高显示效果。

【技术领域】

本发明涉及显示器技术领域，特别是涉及一种检测电路。

【背景技术】

HVA配向技术主要是利用液晶中的高分子在紫外光和电场的共同作用下聚合，对液晶实现自动配向。其配向过程：首先在VA液晶中掺入一定比例的高纯度反应型液晶(趋光性单体，此种液晶既有普通液晶分子的液晶核，又在末端带有一个或多个亚克力基之类的可反应光能基)；随后上下基板之间外加一个电压，使液晶分子产生一个预倾角度；随后进行特定波长范围内的紫外光从阵列基板侧照射后，反应型液晶聚合成高分子网络吸引表层的液晶分子形成固定的预倾角。因此，HVA配向技术在紫外光照射液晶面板的同时，还需要施加一定的电压。

阵列测试是阵列基板通过检测机台向基板输入检测信号，再将其导入至面板内部，以检测面板是否存在不良现象，比如面板的内线路是否短路或者断路。

现有设计的检测线路可以进行显示面板的单驱检测和双驱检测，即面板双边检测电路可以分别从两边输入测试信号，这样就可以减少不良漏检率；然而，HVA固化的信号则只能单边输入，由于大尺寸面板的负载一般较大，可能会造成面板两边输入信号的延迟差异较大，而造成固化效果不一致，最终造成面板显示不良。

因此，有必要提供一种检测电路，以解决现有技术所存在的问题。

【发明内容】

本发明的目的在于提供一种检测电路，能够提高面板的不良检出率。

为解决上述技术问题，本发明提供一种检测电路，其包括：

第一检测线组，包括多条主检测线，所述第一检测线组与显示面板连接；

第二检测线组，包括多条副检测线，所述第二检测线组与所述第一检测线组相对设置；所述第二检测线组与所述显示面板连接；

配向线组，包括多条配向线，所述配向线组分别与所述第一检测线组和所述第二检测线组连接；

控制模块，用于在对所述显示面板进行检测时，使得所述第一检测线组和所述第二检测线组断开连接。

在本发明的检测电路中，所述第一检测线组和所述第二检测线组都用于向所述显示面板输入测试信号，所述第一检测线组输入的测试信号和所述第二检测线组输入的测试信号相互独立。

在本发明的检测电路中，所述控制模块，还用于在对所述显示面板进行配向时，使得所述第一检测线组和所述第二检测线组通过所述配向线组连接。

在本发明的检测电路中，所述第一检测线组和所述第二检测线组都用于将所述配向线组输入的配向信号输入所述显示面板，所述第一检测线组输入的配向信号和所述第二检测线组输入的配向信号相同。

在本发明的检测电路中，所述配向线对应一所述主检测线和一所述副检测线，所述配向线与对应的主检测线和对应的副检测线连接；

所述控制模块包括多个控制单元，所述控制单元与所述配向线一一对应；所述控制单元与对应的桥接配向线连接，所述桥接配向线为连接在所述主检测线和所述副检测线之间的配向线。

在本发明的检测电路中，所述控制单元用于在对所述显示面板进行检测时，使得所述桥接配向线断开。

在本发明的检测电路中，所述控制单元包括控制端、输入端、输出端；