[发明专利]位移测试治具控制装置

权利要求书

1.一种位移测试治具控制装置，其特征在于，所述控制装置包括中控单元、若干选择单元以及与若干举升柱相对应的主控箱单元；

其中，中控单元接收所述若干选择单元中的一个、二个或其任意组合形成的控制命令，经中控单元处理转化为电位变化命令，通过该电位变化命令控制各所述主控箱单元的位移增加或减少，以模拟举升柱按照一定的速度和方向进行移动。

2.根据权利要求1所述的控制装置，其特征在于，所述若干选择单元中的一个在一次持续的输入低电平状态时，控制对应的主控箱位移变化，以模拟与所述主控箱对应的举升柱移动1mm。

3.根据权利要求1所述的控制装置，其特征在于，所述若干选择单元中的一个在一次持续的输入低电平状态下，控制对应的主控箱位移增加或减少，以模拟举升柱向上或者向下移动。

4.根据权利要求1～3任一所述的装置，其特征在于，所述中控单元为PIC16(L)F1789单片机。

5.根据权利要求4所述的控制装置，其特征在于，所述若干选择单元中分别接入到所述PIC16(L)F1789单片机的输入引脚，所述PIC16(L)F1789单片机的输出引脚采用数字模拟输出或者脉冲宽度调制输出中的一中或其结合。

6.根据权利要求1所述的控制装置，其特征在于，所述若干选择单元至少包括有：

上升选择子单元，使主控箱位移增加以模拟对应的举升柱上升，在举升柱上升时的位移由所述控制命令决定；

下降选择子单元，使主控箱位移减少以模拟举升柱下降，在举升柱下降时的位移由所述控制命令决定；

速度提升选择子单元，使主控箱对应的举升柱的位移速度加快，在举升柱位移速度由所述控制命令决定；

速度递减选择子单元，使主控箱对应的举升柱的位移速度递减，在举升柱下降时的位移由所述控制命令决定。