[发明专利]加性制造中的激光功率监测在审
申请号: | 201710086227.6 | 申请日: | 2017-02-17 |
公开(公告)号: | CN107101717A | 公开(公告)日: | 2017-08-29 |
发明(设计)人: | T.G.斯皮尔斯 | 申请(专利权)人: | 通用电气公司 |
主分类号: | G01J1/00 | 分类号: | G01J1/00;G01J1/42;B22F3/105 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司72001 | 代理人: | 郑浩,姜甜 |
地址: | 美国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 制造 中的 激光 功率 监测 | ||
1.一种在加性制造过程中监测激光功率的方法,其中,由激光源(24)生成的构建光束(B)用来选择性地熔合或固化材料以形成工件(W),所述方法包括:
分裂预定百分比的所述构建光束(B)以限定样品光束(S),并将所述样品光束引导到传感器(58);
使用所述传感器(58)以生成与所述样品光束(S)的功率成比例的信号;以及
缩放来自所述传感器(58)的所述信号以生成表示所述构建光束(B)的功率水平的激光功率测量。
2.根据权利要求1所述的方法,其中,所述构建光束(B)经由通过反射的光学器件(56)的透射来分离。
3.根据权利要求1所述的方法,还包括将所述激光功率测量与所述激光源(24)的额定功率进行比较。
4.根据权利要求1所述的方法,还包括响应于所述激光功率测量来控制所述加性制造过程的至少一个方面。
5.根据权利要求4所述的方法,其中,控制步骤包含响应于所述激光功率测量超过一个或更多个预定激光功率限制而采取离散动作。
6.根据权利要求5所述的方法,其中,所述一个或更多个预定激光功率限制包含所述激光功率测量和预期激光功率之间的最大差。
7.根据权利要求3所述的方法,其中,控制步骤包含改变所述加性制造过程的至少一个过程参数。
8.根据权利要求1所述的方法,其中,所述传感器(58)包括固态半导体检测器。
9.根据权利要求1所述的方法,其中所述传感器(58)包括光电倍增管。
10.一种制作工件的设备,包括:
构建室(22);
激光源(24),可操作以生成构建光束(B);
光束导引设备(26),可操作以引导所述构建光束(B),以便按照对应于工件(W)的截面层的图案选择性地熔合或固化所述构建室(22)中的材料(P);
分束器(56),设置在所述激光源(24)和所述光束导引设备(26)之间,所述分束器(56)可操作以分裂预定百分比的所述构建光束(B),以限定样品光束(S);以及
传感器(58),定位成接收所述样品光束(S),所述传感器(58)可操作以生成与所述样品光束(S)的功率成比例的信号。
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