[发明专利]一种CMOS传感器测试方法

权利要求书

1.一种CMOS传感器的测试方法，其特征在于：所述方法包括以下步骤：

(1)连接测试系统；

(2)通过所述上位机发送指令，进行CMOS传感器开短路测试，进行开短路不良分类；

(3)通过所述上位机发送指令，进行CMOS传感器的图像测试，进行图像不良分类；

(4)预设电流阈值，通过所述上位机发送指令，进行CMOS传感器的漏电测试，通过处理器让CMOS传感器处于PWDN状态，测试CMOS传感器电源Pin上电流Ip，Ip大于所述电流阈值时，判断为漏电不良；

(5)所述测试系统自动统计CMOS传感器测试总数量及各不良数量；

(6)所述测试系统自动输出测试结果及统计结果，自动统计输出故障次数，输出格式为Excel报表格式。

2.根据权利要求1所述的一种CMOS传感器的测试方法，其特征在于：所述步骤(2)包括：

(a)上位机发送开短路测试指令，图像传感器根据开短路测试指令所述控制开关选择电路模块，断开CMOS传感器与MIPI桥接模块，设置CMOS传感器电源Pin设置为0V；

(b)恒流源输出+100uA的电流给CMOS传感器待测Pin，通过ADC模块测试该Pin上的待测Pin电压，待测Pin电压V1为0V时判定该待测Pin与CMOS传感器电源Pin短路，待测Pin电压V1大于2V判定该待测Pin与CMOS传感器电源Pin开路；

(c)恒流源输出-100uA的电流给CMOS传感器待测Pin通过ADC模块测试该Pin上的待测Pin电压，待测Pin电压V2为0V判定该待测Pin与CMOS传感器地Pin短路，待测Pin电压V2数值小于-2V，判定该待测Pin与CMOS传感器地Pin开路；

(d)依次更换传感器待测Pin，重复步骤(b)-步骤(c)，CMOS传感器Pin更换完毕后进入步骤(e)；

(e)控制所述开关选择电路模块，将CMOS传感器除所有的Pin接地，所述恒流源向电源Pin输入-100uA的电流，通过ADC模块测试电源Pin的电压，电源Pin电压为V3为0V时电源Pin与地Pin短路。

3.根据权利要求1所述的一种CMOS传感器的测试方法，其特征在于：所述步骤(3)包括：

(A)图像处理器控制开关选择电路与CMOS传感器相连，通过I2C方法读CMOS传感器的ID号；

(B)对CMOS传感器进行参数初始化；

(C)通过光源模块设置光照强度；

(D)对CMOS传感器并口图像数据进行图像测试；

(E)通过所述光源模块设置正常，暗态及全黑的光照强度，重复步骤(D)-(E)。

4.根据权利要求3所述的一种CMOS传感器的测试方法，其特征在于：所述步骤(D)中并口图像数据还包括通过图像处理器初始化启动MIPI桥接模块,所述MIPI桥接模块解码CMOS传感器MIPI口数据得到的并口图像数据。

5.根据权利要求3所述的一种CMOS传感器的测试方法，其特征在于：所述图像测试包括图像坏点测试，图像污点测试，图像坏行、坏列测试及图像偏色测试。