[发明专利]磁盘的制造方法及信息记录介质用玻璃基板有效

专利信息
申请号: 201710066079.1 申请日: 2013-05-31
公开(公告)号: CN107032603B 公开(公告)日: 2020-10-16
发明(设计)人: 中岛哲也;辻村知之;西泽学;小池章夫 申请(专利权)人: AGC株式会社
主分类号: C03C3/085 分类号: C03C3/085;C03C3/087;C03C3/091;G11B5/73;G11B5/84
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 代理人: 王海川;穆德骏
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 磁盘 制造 方法 信息 记录 介质 玻璃
【权利要求书】:

1.一种磁盘的制造方法,其包括在温度为550℃以上的玻璃基板上形成磁记录层的工序,其中,

该玻璃基板以摩尔百分率计含有63%以上且小于71%的SiO2、11~14%的Al2O3、0以上且小于2%的B2O3、合计大于18%且为22%以下的MgO、CaO、SrO和BaO中的任意一种以上的成分,上述7种成分的含量合计为95%以上,并且含有合计小于1%的Li2O、Na2O和K2O中的任意一种以上的成分、或者这3种成分均不含有,

所述玻璃基板以质量百分率计含有大于18%的Al2O3,并且

所述玻璃基板的比模量为32MNm/kg以上。

2.如权利要求1所述的磁盘的制造方法,其中,所述玻璃基板以摩尔百分率计含有合计为10.5~20%的MgO和CaO中的任意一种以上的成分。

3.如权利要求1或2所述的磁盘的制造方法,其中,所述玻璃基板以摩尔百分率计含有6%以上的MgO。

4.如权利要求1或2所述的磁盘的制造方法,其中,所述玻璃基板的比模量为32.5MNm/kg以上。

5.如权利要求1或2项所述的磁盘的制造方法,其中,所述玻璃基板的耐酸性指标A为0.025nm/小时以下。

6.如权利要求1或2所述的磁盘的制造方法,其中,所述玻璃基板的耐碱性指标B为0.28nm/小时以下。

7.如权利要求1或2所述的磁盘的制造方法,其中,所述玻璃基板的粘度达到102dPa·s时的温度T2为1710℃以下。

8.如权利要求1或2所述的磁盘的制造方法,其中,所述玻璃基板的退火点为650℃以上。

9.一种信息记录介质用玻璃基板,其中,所述玻璃基板以摩尔百分率计含有63%以上且小于71%的SiO2、11~14%的Al2O3、0以上且小于2%的B2O3、合计大于18%且为22%以下的MgO、CaO、SrO和BaO中的任意一种以上的成分,上述7种成分的含量合计为95%以上,并且含有合计小于1%的Li2O、Na2O和K2O中的任意一种以上的成分、或者这3种成分均不含有,所述玻璃基板以质量百分率计含有大于18%的Al2O3,并且所述玻璃基板的比模量为32MNm/kg以上。

10.如权利要求9所述的信息记录介质用玻璃基板,其中,所述信息记录介质为磁盘。

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