[发明专利]轨道偏移测量方法、装置及系统

说明书

本发明给出轨道偏移测量方法、装置及系统，所述方法包括：设置行驶轨偏移测量参照点，该行驶轨偏移测量参照点与行驶轨的真实位置保持确定的位置对应关系；在用作轨道偏移测量的第一基准线的第一激光束所在光路上设置光耦和器，该光耦和器从第一激光束中分离出部分光能量；使用从第一激光束中分离出的光能量确定第一激光束的位置；确定行驶轨偏移测量参照点与确定出的第一激光束的位置间的相对位置关系，使用该相对位置关系估计行驶轨相对于第一激光束的偏移量。成本低、效率高、误差小，具有实用性。

技术领域

本发明涉及自动测量领域，尤其涉及轨道偏移测量方法、装置及系统。

背景技术

随着轨道交通建设和运营规模的扩大，如何提高轨道平顺检测效率和检测精度成为业界关注的问题。

对新建轨道和运营轨道的检测项目包括：两行驶轨间高度差、行驶轨间距、轨道弯曲度。这些检测项目也归结为两个轨道间的轨距平顺、方向平顺、垂向平顺和高低平顺检测，这四项平顺性中的每一项可进一步包括平顺的短波特性、中波特性及长波特性。

通常，对上述两个轨道间的四项平顺性采用轨道间或轨道上波长区间内的相对误差进行描述。

对轨道中线平顺性，通常采用相对于测量参照点CPIII的绝对距离进行描述。

现有轨道平顺相对误差测量技术包括申请号为CN201110082835,发明名称为“一种多测点浮动定位表面不平顺测量方法”，该项技术包括：在安装基准上安装多个测量机构，测量机构之间具有确定的相对位置关系，每个测量机构上安装有位移测量传感器，通过多个测点与被测物体表面的相对位置关系而获得被测体的基本不平顺数据并进行推算得出不同波长的被测体表面不平顺数据。

现有轨道平顺检测技术存在轨道位置偏移量数据采集的成本高、效率低、误差大的缺点。

发明内容

本发明给出轨道偏移测量方法、装置及系统，用于克服现有轨道平顺检测技术存在的轨道位置偏移量数据采集的成本高、效率低、误差大的缺点中的至少一种。

本发明给出一种轨道偏移测量基准设定方法，该方法包括如下步骤：

在第一位置处设定轨道偏移测量用第一基准点，在第二位置处设定轨道偏移测量用第二基准点；所述第一基准点和第二基准点分别与行驶轨保持确定的位置对应关系，和/或使用轨道面控制点确定所述第一基准点和第二基准点的位置坐标；

通过所述第一基准点向所述第二基准点发送第一激光束，该第一激光束用作轨道偏移测量的第一基准线，该第一激光束被位于其光路上的光耦合器分离出部分光能量用于轨道偏移测量。

本发明给出一种轨道偏移测量方法，该方法包括如下步骤：

设置行驶轨偏移测量参照点，该行驶轨偏移测量参照点与行驶轨的真实位置保持确定的位置对应关系；

在用作轨道偏移测量的第一基准线的第一激光束所在光路上设置光耦合器，该光耦合器从第一激光束中分离出部分光能量；

使用从第一激光束中分离出的光能量确定第一激光束的位置；

确定行驶轨偏移测量参照点与所述第一激光束的位置间的相对位置关系，使用该相对位置关系估计行驶轨相对于第一激光束的偏移量。

本发明给出一种轨道偏移测量基准设定装置，包括：

第一基准点设定模块，第二基准点设定模块；其中，

第一基准点设定模块，用于在第一位置处设定轨道偏移测量用第一基准点，包括第一激光束发送子模块和第一激光束照射方向调整子模块；

第二基准点设定模块，用于在第二位置处设定轨道偏移测量用第二基准点，包括第一激光束接收或反射子模块；

其中，