[发明专利]射频前端测试装置以及射频前端测试方法

说明书

本发明提供了一种射频前端测试装置及射频前端测试方法。该射频前端测试装置包括一处理模块、一射频前端信号模块、一第一多工模块以及一第二多工模块。处理模块接收一电脑装置传送的一射频前端测试控制信号。射频前端信号模块包括一第一信号端以及一第二信号端，射频前端信号模块分别通过第一信号端以及第二信号端提供一第一信号以及一第二信号。处理模块根据电脑装置的射频前端测试控制信号，循序切换第一多工模块以及第二多工模块的第一输出通道以及第二输出通道，以使第一待测装置以及第二待测装置进行一射频前端测试程序。本发明可以有效简化布建测试流程的人力以及成本。

技术领域

本发明涉及射频前端测试技术领域，且特别是涉及简化布建测试流程时间的射频前端测试装置及相应的射频前端测试方法。

背景技术

近年来，由于移动装置的蓬勃发展，移动网络的需求也就越来越多，而使用者对于移动网络的要求也就越来越高，特别是对移动网络装置的各个模块的可靠度、耐用度等都愈发的严格。由于手机上的射频相关元件越来越多，控制也越加困难，若是通过一个标准的总线界面接口即可控制不同的射频装置，控制上也会较为简单，其中MIPI RFFE(RF Front-end)即是由MIPI Alliance所制定，用于行动无线系统控制射频前端设备的总线界面接口规范。然而一个MIPI RFFE的主机装置(Master Device)至多可以控制15的从属装置(SlaveDevice)，而且，每个从属装置都会有不同的位址(Slave Address)让主机装置可以对指定的从属装置发送指令。

MIPI RFFE装置在信号设定上，主要是时脉信号(CLK)以及数据信号(DATA)两条信号线，当然，也需要电源信号。MIPI RFFE从属装置至少需要时脉信号(CLK)以及数据信号(DATA)两条信号线以及电源信号线，与总线连接，才能确保被主机装置所控制。

然而，在可靠度测试中的老化测试程序中，每一批次的射频前端模块都需要随机挑选一定数量进行500小时到1000小时的老化测试程序。一般老化测试中，每一批次至少需要77个射频前端模块进行测试程序，而在目前业界的测试系统架构中，由于每个射频前端模块的位址(Address)均相同，而每一个射频前端信号模块仅能控制一个射频前端模块，以至于每一个射频前端模块在测试时，均需要连接一个射频前端信号模块(RFFE Controlleror RFFE Dongle)。也就是在老化测试程序中，77个射频前端模块要进行测试，就需要77台射频前端信号模块(RFFE Controller or RFFE Dongle)。

由于所需使用的射频前端信号模块的数量庞大，加上其价格不菲(每台射频前端信号模块约为2万元)，若是再加上同时进行不同批次射频前端模块的老化测试，仅是射频前端信号模块的费用可能就要超过上千万元，因此制造厂商无法购入大量的射频前端信号模块来进行老化测试程序，虽然可以利用手动提供测试信号，然而需要耗费大量的时间。

如何提供一种相对便宜且能够简化布建测试流程时间的射频前端测试装置，显然已经是业界的一个重要课题。

发明内容