[发明专利]一种基于单位脉冲响应的链路时延测量方法及装置有效
申请号: | 201710036717.5 | 申请日: | 2017-01-18 |
公开(公告)号: | CN108322275B | 公开(公告)日: | 2021-07-16 |
发明(设计)人: | 杜欣 | 申请(专利权)人: | 深圳市中兴微电子技术有限公司 |
主分类号: | H04B17/364 | 分类号: | H04B17/364 |
代理公司: | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人: | 彭瑞欣;张天舒 |
地址: | 518055 广东省深*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 单位 脉冲响应 链路时延 测量方法 装置 | ||
本发明公开了一种基于单位脉冲响应的链路时延测量方法,包括:获取包含全零数据的输出信号;检测所述输出信号的零值长度,验证所述零值长度达到预设阈值时,产生单位脉冲数字响应信号,并启动时延测量计数器;对所述单位脉冲数字响应信号进行检测,检测到所述单位脉冲数字响应信号的最大峰值时,关闭所述时延测量计数器,并将所述时延测量计数器的计数值除以所述时延测量计数器的工作频率得到的计算结果,作为上行或下行数字链路的时延值。本发明还同时公开了一种基于单位脉冲响应的链路时延测量装置。
技术领域
本发明涉及通讯领域中的时延测量技术,尤其涉及一种基于单位脉冲响应的链路时延测量方法及装置。
背景技术
在无线通信系统中,为了避免同一射频单元内的上行链路和下行链路相互干扰,或者为了避免多个射频单元与基带单元连接时,各个射频单元之间产生的干扰,通常需要测量射频单元和基带单元之间每条上下行链路的时延值,并将测量到的时延值上报给基带单元,以便基带单元统一做时延补偿处理,从而保证系统的接收数据和发送数据同步。
一般来说,射频单元和基带单元之间的上下行链路的时延值主要包括三部分,分别是:光纤时延、模拟链路时延和数字链路时延。其中,光纤时延和光纤长度有关,因此,对于光纤长度固定的链路来说,光纤时延为固定时延;模拟链路时延与模拟器件如模数转换器(ADC,Analog to Digital Converter)或数模转换器(DAC,Digital to AnalogConverter)有关,因此,对于指定的单板来说,模拟链路时延也为固定时延;数字链路时延和通信制式,例如全球移动通信系统(GSM,Global System for Mobile communication)、通用移动通信系统(UMTS,Universal Mobile Telecommunications System)、码分多址(CDMA,Code Division Multiple Access)、时分同步码分多址(TD-SCDMA,Time Division-Synchronous Code Division Multiple Access)、长期演进(LTE,Long Term Evolution)等相关,而对于不同的通信制式来说,在链路上使用的处理单元存在差异,比如滤波器的阶数不同,这样,就会导致信号在链路上传播的时延不同,因此,数字链路时延为一种可变时延。
图1给出了现有的下行链路示意图,如图1所示,所谓下行链路时延,是指测量信号从基带单元的光口传输到射频单元的射频口所产生的总时延。其中,在射频单元内部,从光口到DAC接口的时延为下行数字链路时延;从DAC接口到射频口的时延为下行模拟链路时延。图2给出了现有的上行链路示意图,如图2所示,所谓上行链路时延,是指测量信号从射频单元的射频口传输到基带单元的光口所产生的总时延。其中,在射频单元内部,从射频口到ADC接口的时延为上行模拟链路时延;从ADC接口到光口的时延为上行数字链路时延。
目前,对于射频单元上行链路和下行链路的时延测量,需要借助外部仪器设备如基带单元、信号源和频谱仪等仪器仪表,且上行方向上,由信号源发送数据,基带单元解调数据;下行方向上,由基带单元发送数据,频谱仪解调数据。虽然利用上述方法可以直接测量射频单元内部的模拟链路和数字链路的总时延值,但由于现有的射频单元都支持多模制式场景,因此,在不同通信制式场景下,都需要对数字链路时延进行单独测量,这样,很容易造成多模场景的时延测量工作比较繁琐。
发明内容
有鉴于此,本发明实施例期望提供一种基于单位脉冲响应的链路时延测量方法及装置,不仅能简化测量步骤,还可以降低对测试环境的依赖性,提高测试效率。
为达到上述目的,本发明实施例的技术方案是这样实现的:
本发明实施例提供一种基于单位脉冲响应的链路时延测量方法,所述方法包括:
获取包含全零数据的输出信号;
检测所述输出信号的零值长度,验证所述零值长度达到预设阈值时,产生单位脉冲数字响应信号,并启动时延测量计数器;
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