[发明专利]用于时间交错式模拟数字转换器的校正电路与校正方法

说明书

本申请公开了一种用于时间交错式模拟数字转换器的校正电路与校正方法。校正电路包含滤波电路与计算电路。滤波电路用于接收第一信号并将第一信号进行信号重建以产生第二信号。第一信号包含镜像干扰信号，第二信号包含重建镜像干扰信号。重建镜像干扰信号的频率与镜像干扰信号的频率相同。计算电路用于根据第二信号消除第一信号的镜像干扰信号。

技术领域

本案是关于一种校正技术，且特别是关于一种用于时间交错式模拟数字转换器的校正电路与校正方法。

背景技术

于高速数据撷取的应用当中，时间交错式模拟数字转换器(Time-interleavedanalog-to-digital converter，TI ADC)是具有竞争力的技术。然而，可能由于制程的变异性，导致时间交错式模拟数字转换器的信道彼此不匹配(例如增益不匹配(gainmismatch)、偏移不匹配(offset mismatch)、取样时间的偏差(sample-time errors)与频宽不匹配(bandwidth mismatch))，进而造成取样数据失真并降低时间交错式模拟数字转换器的整体效能。

发明内容

本案的一方面是提供一种校正电路，用于时间交错式模拟数字转换器。校正电路包含滤波电路与计算电路。滤波电路用于接收第一信号并将第一信号进行信号重建以产生第二信号。第一信号包含镜像干扰信号，第二信号包含重建镜像干扰信号。重建镜像干扰信号的频率与镜像干扰信号的频率相同。计算电路用于根据第二信号消除第一信号的镜像干扰信号。

本案的另一方面是提供一种校正方法，用于时间交错式模拟数字转换器。校正方法包含以下步骤。通过滤波电路将第一信号的干扰信号进行信号重建以产生第二信号的重建镜像干扰信号。第一信号包含镜像干扰信号。重建镜像干扰信号的频率与镜像干扰信号的频率相同。通过计算电路根据第二信号的重建镜像干扰信号消除第一信号的镜像干扰信号。

综上所述，本案的目的在于由于改善时间交错式模拟数字转换器的取样数据失真问题。本案提供的校正电路与校正方法可有效消除由于时间交错式模拟数字转换器的信道不匹配造成的镜像干扰信号，因此改善取样数据的失真问题并提升时间交错式模拟数字转换器效能。

附图说明

为让本案的上述和其它目的、特征、优点与实施例能更明显易懂，所附图式的说明如下：

图1是根据本案一实施例绘示的校正电路的示意图；

图2A～2D是根据本案一实施例绘示的频谱示意图；

图3是根据本案一实施例绘示的校正电路的示意图；

图4是根据本案一实施例绘示的校正电路的示意图；

图5是根据本案一实施例绘示的校正电路的示意图；以及

图6是说明本案一实施例的校正方法流程图。

具体实施方式

以下公开提供了许多不同实施例或例证用于实施本发明的特征。本公开在不同例证中可能重复引用数字符号且/或字母，这些重复皆为了简化及阐述，其本身并未指定以下讨论中不同实施例且/或配置之间的关系。

关于本文中所使用的『耦接』或『连接』，均可指二或多个组件相互直接作实体或电性接触，或是相互间接作实体或电性接触，而『耦接』或『连接』还可指二或多个组件相互操作或动作。

参阅图1，图1是根据本案一实施例绘示的校正电路100的示意图。校正电路100包含滤波电路110与计算电路120。为了方便，本实施例以两个通道的时间交错式模拟数字转换器(Time-interleaved analog-to-digital converter，TI ADC)进行说明，然而本案不以此为限。