[发明专利]一种连续进床PET系统的计数丢失校正方法和装置

权利要求书

1.一种连续进床正电子发射型计算机断层显像PET系统的计数丢失校正方法，其特征在于，所述方法包括：

对于所述PET系统对应的虚拟系统中的每一条虚拟响应线，确定所述一条虚拟响应线对应的多条实际响应线，每一条所述实际响应线对应所述PET系统的实际系统中的一个扫描状态；

在每一个所述扫描状态下，根据所述实际系统中每个实际晶体对应的虚拟晶体的单光子计数率，得到所述实际晶体的单光子计数率；

确定所述扫描状态下的所述实际响应线对应的两个实际晶体分别所在的探测器模块，根据所述实际晶体的单光子计数率得到所述实际响应线对应的两个探测器模块的单光子计数率；

根据所述探测器模块的单光子计数率，得到所述两个探测器模块的计数丢失校正因子；

根据两个探测器模块的计数丢失校正因子，得到所述实际响应线的计数丢失校正因子；

根据所述多条实际响应线的计数丢失校正因子，确定所述虚拟响应线的计数丢失校正因子；

根据每一条所述虚拟响应线的计数丢失校正因子，对所述虚拟响应线进行计数丢失校正。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据实际系统中每个实际晶体对应的虚拟晶体的单光子计数率，得到实际晶体的单光子计数率，包括：

确定所述虚拟晶体的单光子计数率；

根据所述虚拟晶体对应的实际系统中轴向一列实际晶体的相对接收效率，得到所述实际晶体的单光子计数率。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述实际晶体的单光子计数率得到所述实际响应线对应的两个探测器模块的单光子计数率，包括：

对所述探测器模块上多个实际晶体的单光子计数率进行加和。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

预先确定探测器模块的单光子计数率与探测器模块的计数丢失校正因子的对应关系。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述多条实际响应线的计数丢失校正因子，确定所述虚拟响应线的计数丢失校正因子，包括：

对多条实际响应线的计数丢失校正因子进行加权平均，获得所述虚拟响应线的计数丢失校正因子。

6.一种连续进床正电子发射型计算机断层显像PET系统的计数丢失校正装置，其特征在于，所述装置包括：

响应线确定模块，用于对于所述PET系统对应的虚拟系统中的每一条虚拟响应线，确定所述一条虚拟响应线对应的多条实际响应线，每一条所述实际响应线对应所述PET系统的实际系统中的一个扫描状态；

晶体计数率确定模块，用于在每一个所述扫描状态下，根据所述实际系统中每个实际晶体对应的虚拟晶体的单光子计数率，得到所述实际晶体的单光子计数率；

模块计数率确定模块，用于确定所述扫描状态下的所述实际响应线对应的两个实际晶体分别所在的探测器模块，根据所述实际晶体的单光子计数率得到所述实际响应线对应的两个探测器模块的单光子计数率；

模块因子确定模块，用于根据所述探测器模块的单光子计数率，得到所述两个探测器模块的计数丢失校正因子；

实际响应线因子确定模块，用于根据两个探测器模块的计数丢失校正因子，得到所述实际响应线的计数丢失校正因子；

虚拟响应线因子确定模块，用于根据所述多条实际响应线的计数丢失校正因子，确定所述虚拟响应线的计数丢失校正因子；

数据校正模块，用于根据每一条所述虚拟响应线的计数丢失校正因子，对所述虚拟响应线进行计数丢失校正。

7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，

所述晶体计数率确定模块，具体用于：确定所述虚拟晶体的单光子计数率；根据所述虚拟晶体对应的实际系统中轴向一列实际晶体的相对接收效率，得到所述实际晶体的单光子计数率。

8.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，

所述模块计数率确定模块，具体用于对所述探测器模块上多个实际晶体的单光子计数率进行加和。