[发明专利]一种老化箱

说明书

技术领域

本发明涉及吸波研究技术领域，具体地，涉及一种老化箱。

背景技术

在进行航天电子产品生产验收的过程，对所生产的航天电子产品进行电磁波老化测试是十分重要的检验测试步骤。现有技术中，通过将航天电子产品放置在开阔无人地带(因为航天电子产品所发射的电磁波频率、功率过高，会对人体造成电磁波伤害)，然后通过长时间地开启航天电子产品，并对航天电子产品进行各个相应工作波段的工作测试。在预定的验收老化时间内，如果航天电子产品能够持续正常工作，则说明该航天电子产品在长时间的工作过程中的老化程度符合产品质量验收要求，属于合格产品。但是，如果航天电子产品在工作过程中无法承受老化而导致无法正常工作,则说明该航天电子产品不符合产品质量验收要求，无法达到抵抗老化的预期效果，属于不合格产品。

但是，现有技术中只能通过将航天电子产品放置在开阔无人地带进行测试，满足这样条件要求的选址比较少有，造成测试选址困难，延误对航天电子产品的测试，影响正常生产。

发明内容

本发明的目的在于提供一种老化箱，旨在解决现有技术中测试航天电子产品所需的开阔无人地带选址困难的问题。

为解决上述技术问题，本发明的技术方案是：提供一种老化箱，包括：多个吸波模块，各吸波模块包括安装板和多个吸波尖锥构件，各吸波尖锥构件包括座体和设置在座体上的吸波锥体，座体连接在安装板上，相邻两个吸波锥体之间相互对齐且相互接触,每个吸波尖锥构件开设有内腔，内腔连通座体和吸波锥体，且内腔由座体处与外部连通；多个支撑框架，各支撑框架上安装有多个吸波模块而形成吸波板，多个吸波模块依次相接地设置，多个吸波板围合形成密闭的吸波箱体；同一个支撑框架上，相邻两个吸波模块之间，其中一个吸波模块的吸波尖锥构件与相邻的另一个吸波模块的吸波尖锥构件相连设置；同一个支撑框架上的各吸波尖锥构件均朝向同一方向延伸。

可选地，吸波箱体为正方体箱体或长方体箱体，吸波箱体的其中一个侧面的吸波板可拆卸地设置，该吸波板作为侧门结构与其余五个吸波板组成的开口框架共同形成密闭的吸波箱体。

可选地，作为侧门结构的吸波板竖直设置，且该吸波板的底侧设置有多个第一车轮。

可选地，老化箱还包括两个相互平行设置的轨道，且两个轨道平行于开口框架的底部的两侧边延伸，多个第一车轮对应地分别设置在两个轨道上。

可选地，老化箱还包括两个相互平行设置的轨道，两个轨道固定设置在地面上，开口框架的底部设置有多个第二车轮，多个第一车轮与多个第二车轮均对应地分别设置在两个轨道上。

可选地，座体和吸波锥体连接固定且两者之间形成两个相对的安装槽，安装板上设置有平行设置的多个连接轨，座体位于相邻两个连接轨形成的容置空间内，且连接轨的卡接部延伸进安装槽内。

可选地，安装板与座体之间涂抹有弹性形变层。

可选地，安装板与座体之间嵌设有用于使卡接部抵紧安装槽槽壁的弹压片。

可选地，座体与吸波锥体之间一体成型。

可选地，座体的横截面形状为矩形，座体的相邻两侧边上设置有凸棱，座体的与凸棱相对的两侧边开有容纳槽，相邻两个吸波尖锥构件之间的凸棱与相应的容纳槽相配合。

本发明中，该老化箱通过应用在吸波尖锥构件中开设空腔而减轻重量，从而方便工作人员进行组装工作，在组装形成吸波箱体之后，工作人员将航天电子产品放置在吸波箱体内部进行测试，从而将航天电子产品所发射的电磁波通过吸波箱体上分布的吸波尖锥构件进行吸波消耗，使航天电子产品所发射的电磁波无法伤害人体健康，使航天电子产品在老化箱中进行持续的老化测试，无需再选择开阔无人地带对航天电子产品进行老化测试，解决了对航天电子产品进行老化测试选址困难的问题。

附图说明

图1是本发明中形成的吸波板的结构示意图；

图2是本发明的老化箱的第一实施例的结构示意图；

图3是本发明的老化箱的第二实施例的结构示意图；

图4是其中一种吸波模块的结构示意图；

图5是图4中A处放大结构示意图；

图6是图4中安装板的结构示意图；

图7是图4中吸波尖锥构件的第一视角的立体结构示意图；

图8是图4中吸波尖锥构件的第二视角的立体结构示意图；

图9是另外一种吸波模块的结构示意图；

图10是图9中吸波尖锥构件的结构示意图；

图11是图9中相邻两个吸波尖锥构件的配合结构示意图；