[发明专利]GIP信号测试电路、GIP信号测试方法和显示装置

说明书

本发明提供了一种GIP信号测试电路、GIP信号测试方法和显示装置，其中GIP信号测试电路包括：一信号测试线、一时钟信号线、一个第一晶体管、多个第二晶体管、多个第三晶体管、多个电容以及多级GIP信号；所述第二晶体管、第三晶体管、电容以及GIP信号一一对应；所述第一晶体管连接在所述时钟信号线与信号测试线之间；所述信号测试线通过多个第二晶体管、多个第三晶体管以及多个电容分别接收多级GIP信号，并根据所述多级GIP信号输出测试信号，从而只需要一条信号测试线就能够对每一级GIP信号进行检测，使得显示装置在基本不增加走线的基础上确保了GIP电路的可靠性，同时提高了不良解析的效率。

技术领域

本发明涉及平板显示技术领域，具体涉及一种GIP信号测试电路、GIP信号测试方法和显示装置。

背景技术

近年来，随着信息技术、无线移动通讯和信息家电的快速发展与应用，人们对电子产品的依赖性与日俱增，更带来各种显示技术及显示装置的蓬勃发展。平板显示装置具有完全平面化、轻、薄、省电等特点，因此得到了广泛的应用。

目前，随着平板显示技术的发展，出现了一种将平板显示装置的栅极驱动器通过掩模板镀膜技术直接制作在玻璃基板上的新型技术—GIP(Gate in Panel，门面板)技术。目前，GIP技术是把扫描芯片集成在显示面板上，达到节省扫描芯片，降低材料成本，减少工艺步骤并缩短工艺时间，从而降低面板成本、实现更窄边框的目的。

但是，显示面板在制造过程中存在许多不良，解析的时候就需要测试GIP信号是否正常，然而，随着屏体分辨率越来越高，不可能每一级均用引线引出以供信号测量使用。现有技术中，一般采用引线引出第一级GIP信号以及最后一级GIP信号进行测量。请参考图1，其为现有技术中GIP信号测试电路的结构示意图。如图1所示，栅极驱动电路包括第一级级联结构、第二级级联结构…第n级级联结构(最后一级的级联结构)，所述级联结构通常是移位寄存器。所述栅极驱动电路根据外部电路输入的信号sin，产生多级GIP信号，采用引线引出第1级GIP信号S1以及最后一极的GIP信号Sn，对第一级GIP信号S1以及最后一级GIP信号Sn进行测试，其余级GIP信号均不能进行测试。因此，即使其余各级GIP信号出现异常，也无法进行确认。

基于此，如何解决现有的平板显示装置无法在不增加走线的情况下对每一级GIP信号进行测试的问题，成了本领域技术人员亟待解决的一个技术问题。

发明内容

本发明的目的在于提供一种GIP信号测试电路、GIP信号测试方法和显示装置，以解决现有技术中显示装置无法在不增加走线的情况下对每一级GIP信号进行测试的问题。

为实现上述目的，本发明提供一种具有GIP信号测试电路，包括：一信号测试线、一时钟信号线、一个第一晶体管、多个第二晶体管、多个第三晶体管、多个电容以及多级GIP信号；所述第二晶体管、第三晶体管、电容以及GIP信号一一对应；所述第一晶体管连接在所述时钟信号线与信号测试线之间；所述信号测试线通过多个第二晶体管、多个第三晶体管以及多个电容分别接收多级GIP信号，并根据所述多级GIP信号输出测试信号。

可选的，所述第一晶体管的第一电极连接至所述时钟信号线，所述第一晶体管的第二电极连接至所述信号测试线，所述第一晶体管的栅极连接至所述信号测试线。

可选的，所述第二晶体管的第一电极连接至所述信号测试线，所述第二晶体管的第二电极连接相对应的所述GIP信号；所述第二晶体管的栅极连接至相对应的第三晶体管的第二电极。

可选的，所述第三晶体管的第一电极连接至所述时钟信号线，所述第三晶体管的第二电极与栅极均连接至相对应的所述电容的一端，所述电容的另一端连接至相对应的所述GIP信号。

可选的，所述第一电极为源极，所述第二电极为漏极；或者，所述第一电极为漏极，所述第二电极为源极；所述第一晶体管至第三晶体管均为薄膜场效应晶体管。