[发明专利]一种TTL到ECL的电平转换器的测试方法及系统

说明书

本发明公开了一种TTL到ECL的电平转换器的测试方法及系统，所述方法包括：在测试系统的电源设置模块中增加辅助电源，并且对辅助电源的管脚配置进行设置；在相应的电源设置模块中分别设置辅助电源的电压值、限流、延迟参数；将待测电平转换器的相应接口连接到测试系统中，且将待测电平转换器的输出接口均分别通过电阻连接到辅助电源上；按照测试需求，建立待测电平转换器的测试流程并在测试系统中选取相应的测试方法进行电平转换器的测试。所述TTL到ECL的电平转换器的测试方法及系统通过新增辅助电源并且相应的设置参数，使得测试系统能够满足电平转换器的测试需求，进而完成电平转换器的各项测试，提高了电平转换器性能测试的稳定性和可靠性。

技术领域

本发明涉及电平转换器测试的技术领域，特别是指一种TTL到ECL的电平转换器的测试方法及系统。

背景技术

TTL(Transister-Transister-Logic)电路是指晶体管-晶体管逻辑电路，是数字集成电路的一大门类。TTL电路采用双极型工艺制造，具有高速度低功耗和品种多等特点。ECL(Emitter Couple Logic)电路是指射极耦合逻辑集成电路，与TTL电路不同，ECL电路的最大特点是其基本门电路工作在非饱和状态。所以，ECL电路的最大优点是具有相当高的速度，这种电路的平均延迟时间可达几个毫微秒甚至亚毫微秒数量级。这使得ECL集成电路在高速和超高速数字系统中具有较大的优势，能够广泛用于数字通信、雷达等领域。

在新一代电子电路设计中，随着低电压逻辑的引入，系统内部常常出现输入/输出逻辑不协调的问题，从而提高了系统设计的复杂性。例如，当1.8V的数字电路与工作在3.3V的模拟电路进行通信时，需要首先解决两种电平的转换问题，这时就需要通过电平转换器来实现这一功能。同时，随着不同工作电压的数字IC的不断涌现，逻辑电平转换的必要性更加突出，电平转换方式也将随逻辑电压、数据总线的形式(例如4线SPI、32位并行数据总线等)以及数据传输速率的不同而改变。

但是，对于TTL到差分ECL的电平转换器来说，由于其输出为差分ECL信号，所以功能及交直流参数的测试条件比较特殊。从而导致常见的测试系统有时候不能满足某些TTL到差分ECL的电平转换器的测试需求，例如J750测试系统的数字通道电压范围为-1V至6V，截止电压的最小值为-1V；Magnum II测试系统的数字通道电压范围为-1.5V至6.5V；MagnumV测试系统的数字通道电压范围为-1.5V至4.5V；T5385ES测试系统的数字通道电压范围为-1.5V至5V；M5S测试系统的数字通道电压范围为-1.5V至6.5V。这些测试系统的截止电压最小值均为-1.5V或-1V，而有一些TTL到差分ECL的电平转换器的测试条件为“50ohm to-2V”，也即需要的测试电压为-2V，若是现有测试系统不能满足电平转换器的测试条件，将会影响这一类电平转换器逻辑功能、交流参数以及直流参数VOH、VOL等的测试。进而给这一类电平转换器的使用带来不便。

发明内容

有鉴于此，本发明的目的在于提出一种TTL到ECL的电平转换器的测试方法及系统，使得测试系统能够满足电平转换器的测试需求。

基于上述目的本发明提供的一种TTL到ECL的电平转换器的测试方法，包括：

在测试系统的电源设置模块中增加一个辅助电源，并且对辅助电源的管脚配置进行设置；

在辅助电源相应的电源设置模块中分别设置辅助电源的电压值、限流、延迟参数；

将待测电平转换器的相应接口连接到测试系统中，且将待测电平转换器的输出接口均分别通过电阻连接到辅助电源上；

按照测试需求，建立待测电平转换器的测试流程并在测试系统中选取相应的测试方法进行电平转换器的测试。

可选的，所述在测试系统的电源设置模块中增加一个辅助电源的步骤之前还包括：