[发明专利]一种异步FIFO特殊功能测试方法

说明书

本发明公开了一种异步FIFO(First Input First Output)特殊功能测试方法，所述方法包括：将被测器件与测试系统平台连接；在测试系统平台上定义包括电源管脚在内的相关管脚参数；定义包括电源电平、输入脉冲电平在内的相关电平参数，并为相关参数赋值；在功能测试中测试管脚和管脚在脉冲之后的低电平部分，在交流测试中测试管脚和管脚脉冲的高电平部分。所述方法完成了对Read Data Flow Through和Write Data Flow Through的功能测试，从而填补了对此类器件该项测试上的空白，提高了测试覆盖率，提高了异步FIFO测试能力。且在执行测试过程中，采用Spec Search方法测试交流参数tWEF和tRFF来验证两种模式的功能，有效地提高了测试效率。

技术领域

本发明涉及元器件测试领域，特别是指一种异步FIFO特殊功能测试方法。

背景技术

目前可编程逻辑器件越来越广泛，种类也越来越多，基于SRAM(Static RandomAccess Memory)工艺和基于FIFO(First Input First Output)工艺都有广泛的应用。前期已经对SRAM和FIFO做了大量的技术研究和测试程序攻关工作。

某些异步FIFO具有Read Data Flow Through功能和Write Data Flow Through功能。对于Read Data Flow Through模式，在向空存储器写入一个数据后允许立刻将该数据读出。在此期间，管脚信号会有一个脉冲(先由低电平变为高电平再由高电平变为低电平)。对于Write Data Flow Through模式，在从满的存储器中读出一个数据后允许立刻写入一个数据。在此期间管脚信号也会有一个脉冲(先由低电平变为高电平再由高电平变为低电平)。

目前对Read Data Flow Through功能测试及Write Data Flow Through功能测试关注甚少，因此需要对Read Data Flow Through功能测试以及Write Data Flow Through功能测试进行一定的深入研究。

发明内容

有鉴于此，本发明的目的在于提出一种异步FIFO特殊功能测试方法，完成对于异步芯片的Read Data Flow Through功能和Write Data Flow Through功能的测试。

基于上述目的本发明提供的一种异步FIFO特殊功能测试方法，包括以下步骤：

将被测器件与测试系统平台连接；

在测试系统平台上定义包括电源管脚在内的相关管脚参数；

在测试系统平台上定义包括电平参数和时序参数在内的相关参数，并为相关参数赋值；

建立读取数据流模式和写入数据流模式的测试向量，在功能测试中测试管脚和管脚在脉冲之后的低电平部分，在交流测试中测试管脚和管脚脉冲的高电平部分；

建立测试流程，对读取数据流模式与写入数据流模式进行功能验证。

进一步，所述在功能测试中测试管脚和管脚在脉冲之后的低电平部分，包括：对读取数据流模式与写入数据流模式下的功能进行模拟，并将两种模式下管脚与管脚的采样时刻设置在脉冲之后，测试管脚与管脚在脉冲之后的低电平部分。

进一步，所述在交流测试中测试管脚和管脚脉冲的高电平部分，包括：采用参数搜索方法对交流参数tWEF与tRFF进行测试。

进一步，所述参数搜索方法的扫描方法为线性方法，步长为0.1ns。

进一步，所述参数搜索方法按照给定的交流测试电平、时序及向量，扫描被测交流参数的不同值得到使相应的测试向量由PASS到FAIL或者由FAIL到PASS的临界值，临界值即为交流参数tWEF和tRFF的值。