[发明专利]内存设备及基于多层RRAM交叉阵列的数据处理方法有效

专利信息
申请号: 201680058624.6 申请日: 2016-01-18
公开(公告)号: CN108475522B 公开(公告)日: 2020-12-15
发明(设计)人: 余浩;王雨豪;赵俊峰;杨伟;肖世海;倪磊滨 申请(专利权)人: 华为技术有限公司;南洋理工大学
主分类号: G11C11/21 分类号: G11C11/21
代理公司: 北京龙双利达知识产权代理有限公司 11329 代理人: 张欣;王君
地址: 518129 广东*** 国省代码: 广东;44
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 内存 设备 基于 多层 rram 交叉 阵列 数据处理 方法
【权利要求书】:

1.一种内存设备,其特征在于,所述内存设备包括控制总线和多个内存单元,所述多个内存单元之间通过所述控制总线相连,所述多个内存单元中的每个内存单元包括:

控制模块,所述控制模块通过所述控制总线与处理器相连,并通过所述控制总线接收和解析所述处理器的指令,其中,所述处理器的指令包括逻辑运算指令;

逻辑模块,所述逻辑模块与所述控制模块相连,所述逻辑模块包括多层电阻式随机存取存储器RRAM交叉阵列,所述多层RRAM交叉阵列中的忆阻器的阻值为Ron或Roff,Ron表示布尔值1,Roff表示布尔值0,所述逻辑模块根据所述逻辑运算指令,通过所述多层RRAM交叉阵列进行布尔运算;

所述逻辑运算指令用于指示所述逻辑模块进行布尔向量A和布尔向量B的点乘运算,A、B均表示N维布尔向量,N为不小于2的正整数;

所述多层RRAM交叉阵列中的第一层RRAM交叉阵列包括N行×N列的忆阻器阵列,所述第一层RRAM交叉阵列的每一行中的忆阻器的输入端连接一条字线,所述第一层RRAM交叉阵列的每一列中的忆阻器的输出端连接一条位线,所述第一层RRAM交叉阵列的N条字线与所述控制模块相连,所述第一层RRAM交叉阵列的N条位线分别通过N个比较电路与所述多层RRAM交叉阵列中的其他RRAM交叉阵列相连;

所述第一层RRAM交叉阵列根据所述N条字线输入的电压信号以及所述第一层RRAM交叉阵列中的忆阻器的阻值,在所述N条位线上生成N个电流信号,其中,所述N条字线中的第j条字线输入的电压信号的电压值为Bj对应的电压值,所述第一层RRAM交叉阵列中的第j行忆阻器的阻值为Aj对应的阻值,Bj为布尔向量B的第j个元素,Aj为布尔向量A的第j个元素,j的取值分别从0到N-1;

所述N个比较电路分别将所述N个电流信号转换成N个电压信号,并将所述N个电压信号与所述N个比较电路各自对应的电压阈值进行比较,使得所述N条位线的输出端输出第一计算结果对应的电压信号,其中,所述第一计算结果为N维布尔向量,且所述第一计算结果的前K个元素为1,其余元素为0,K为A与B点乘的运算结果;

所述其他RRAM交叉阵列从所述N条位线的输出端接收所述第一计算结果对应的电压信号,并根据所述第一计算结果对应的电压信号以及所述其他RRAM交叉阵列中的忆阻器的阻值,获得第二计算结果对应的电压信号,其中,所述第二计算结果为K的二进制表示。

2.如权利要求1所述的内存设备,其特征在于,所述N个比较电路中的第j个比较电路包括固定阻值的电阻Rs和比较器,所述电阻Rs的一端与所述N条位线中的第j条位线以及所述比较器相连,所述电阻Rs的另一端与地相连,所述第j个比较电路的电压阈值为Vr*gon*Rs*(2j+1)/2,其中,Vr表示布尔值1对应的电压值,gon表示Ron的倒数。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华为技术有限公司;南洋理工大学,未经华为技术有限公司;南洋理工大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201680058624.6/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top