[发明专利]材料分拣系统有效

专利信息
申请号: 201680053690.4 申请日: 2016-07-18
公开(公告)号: CN108136445B 公开(公告)日: 2020-11-20
发明(设计)人: M·G·加西亚;N·库马;S·达斯 申请(专利权)人: 索特拉合金有限公司
主分类号: B07C5/02 分类号: B07C5/02;B07C5/10;B07C5/34;B07C5/342;B07C5/36;B07C5/38;G01N23/223
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 王颖;江磊
地址: 美国特*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 材料 分拣 系统
【权利要求书】:

1.一种将多个金属合金件分拣到至少第一金属合金件分拣集和第二金属合金件分拣集中的方法,所述第一金属合金件分拣集具有第一金属合金组成,所述第二金属合金件分拣集具有不同于第一金属合金组成的第二金属合金组成,所述方法包括:

将多个金属合金件以预定的速度在输送带上输送;

沿着与输送带的行进方向基本上平行的线确定多个金属废件中每个金属废件的近似长度,其中确定多个金属合金件中每个金属合金件的近似长度包括在多个金属合金废件中每个金属合金废件以预定的速度行进经过距离测量装置时测量该金属合金废件的近似长度,其中距离测量装置使用光源来确定多个金属合金件中每个金属合金件的近似长度;

使多个金属废件暴露于x射线荧光(“XRF”)系统的x射线源发射的x射线,并通过XRF系统检测多个金属废件响应于x射线源发射的x射线所发射的x射线荧光信号;

其中,配置XRF系统,以仅仅在一段时间内测量从多个金属合金件中每个金属合金件中特定的一个金属合金件发出的XRF光谱,所述一段时间是根据多个金属合金件中每个金属合金件中特定的一个金属合金件所测得的近似长度确定的,其中所述一段时间是根据多个金属合金件中每个金属合金件中特定的一个金属合金件测得的近似长度和预定的速度确定的,使得仅测量从多个金属合金件中每个金属合金件中特定的一个金属合金件发出的XRF光谱,不测量来自多个金属合金件中每个金属合金件中特定的一个金属合金件周围环境的XRF光谱;

将所述多个金属合金件中的第一金属合金件分类为具有第一金属合金组成,并且将所述多个金属合金件中的第二金属合金件分类为具有第二金属合金组成,其中由使用XRF系统从多个金属合金件中的每个金属合金件检测获得的x射线荧光的结果对多个金属合金件的金属合金组成进行分类;

响应于以下(1)和(2)将多个金属合金件中的第一金属合金件与金属合金件中的第二金属合金件分拣开来:(1)将多个金属合金件中的第一金属合金件分类为具有第一金属合金组成,(2)将多个金属合金件中的第二金属合金件分类为具有第二金属合金组成。

2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,XRF系统的一个或多个x射线检测器获得XRF光谱,所述XRF光谱包含在多个金属合金件中的每个金属合金件在从XRF系统发射的x射线束附近行进时该金属合金件发出荧光的x射线的多个信道的能量计数,其中多个信道的每个信道表示多个金属合金件中每个金属合金件中的不同元素,其中多个信道中每个信道的能量计数累积为多个金属合金件的运行总能量计数,其中对于多个金属合金件中每个金属合金件中特定的一个金属合金件的多个信道中的每个信道的能量计数通过以下方式确定:基于每信道,从多个金属合金件中特定的一个金属合金件的x射线检测器接收的累积运行总能量计数中减去之前扫描的金属合金件的x射线检测器接收的累积运行总能量计数。

3.如权利要求2所述的方法,所述方法还包括:

将多个信道中每个信道的各能量计数的净峰面积进行归一化,对多个金属合金件中的第一金属合金件产生元素组成标记;和

对多个金属合金件中的第一金属合金件的元素组成标记与一个或多个已知的元素组成标记逐个元素进行比较,其中所述一个或多个已知的元素组成标记各自对应于不同的金属合金组成。

4.如权利要求3所述的方法,其特征在于,当多个金属合金件中第一金属合金件的元素组成标记与已知的对应第一金属合金组成的元素组成标记基本匹配时,所述多个金属合金件中的第一金属合金件被分类为具有第一金属合金组成。

5.如权利要求3所述的方法,其特征在于,所述净峰面积通过以下方式确定:

向XRF光谱施加平滑滤波器,以产生XRF光谱的平滑曲线图;

剥离XRF光谱的平滑曲线图中的峰,以估计XRF光谱的背景能量计数;和

从XRF光谱的平滑曲线图中减去估计的背景能量计数,得到多个信道中各信道的最终能量计数。

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