[实用新型]一种放射源搜寻装置有效

专利信息
申请号: 201621441566.9 申请日: 2016-12-27
公开(公告)号: CN206725779U 公开(公告)日: 2017-12-08
发明(设计)人: 葛良全;张罡;张庆贤;赵奎;谷懿;罗耀耀;吴涛;徐僳 申请(专利权)人: 成都理工大学
主分类号: G01V5/00 分类号: G01V5/00;G01T1/202
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 610059 四川*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 放射源 搜寻 装置
【说明书】:

技术领域

实用新型涉及一种核辐射测量装置,尤其涉及一种放射源搜寻装置。

背景技术

近20年我国放射源的数量以年均15%的速度增长,在工业、农业、医疗等各行业得到广泛应用,但是在源的开发、使用、储存、运输过程中,丢失放射源的事件频频发生,造成人力物力的损失。所以在放射源丢失后应尽快利用已知信息设计合理方案对源进行搜寻,避免对公众和环境造成更大的影响。

目前,国外对丢失放射源主要是用机载或车载大晶体碘化钠探测器进行地毯式搜寻,为了精确定位常常需要人手持长柄γ探测器进入高辐射场中进行近距离搜寻,这对搜寻人员的伤害非常大。在国内,白书明就采取了地毯式搜寻方案,徒步模拟环境中放射源搜寻,并对搜寻人员受照剂量估算。刘新华采用了平行线法对某地进行了野外徒步平行线搜寻测量,并结合实际测量的等值线图找出已丢源的大致方位。还有一些搜寻方案也慢慢被人们所用,如三点法,同心圆法等都可以在一定的情况条件下使用。为了帮助发展中国家提高废放射源的管理水平,国际原子能机构(IAEA)于1991年启动了废放射源计划,描述了废放射源鉴别和定位方法。

采用徒步地毯式方法去搜寻丢失的放射源虽然较全面的对搜寻区域进行探测,但是由于搜寻区域的大小和搜寻过程中的不确定性和未知性,会使搜寻工作加重,搜寻时间变长,搜寻效率降低,有时更会对搜寻的工作人员造成辐射伤害。而采用车载地毯式搜寻虽然会使搜寻时间缩短,但是探测的准确性也会随之降低,甚至会出现漏测区,这样会使搜寻工作复杂化。在搜寻过程中,只有尽量减少搜寻时间,提高搜寻效率,缩短搜寻区域,有效准确快速的确定放射源的大致方位,才能减少经济损失,解除社会恐慌。

实用新型内容

本实用新型的目的就在于提供一种解决上述问题,提高搜寻效率,减少搜寻时间,能快速准确的确定丢失放射源的大致方位,从而减少了搜寻时间,提高的搜寻效率,简化了搜寻工作的一种放射源搜寻装置和搜寻方法。

为了实现上述目的,本实用新型采用的技术方案是这样的:一种放射源搜寻装置,包括立柱,所述立柱两侧靠近顶部处分别设有一横杆,两横杆能在立柱上水平上下移动,一横杆下设有一大晶体探测器,另一横杆下设有一小晶体探测器组;

所述大晶体探测器的探测方向竖直向下;所述小晶体探测器组包括数个小晶体探测器,所述小晶体探测器包括一NaI晶体探测器和准直器,所述准直器位于NaI晶体探测器的探测端,二者均为圆柱形,同轴且固定成一整体,所述整体外壁和顶部包覆有晶体屏蔽铅层;

其中一小晶体探测器为中心探测器,位于中心且探测方向为竖直向下,其余小晶体探测器为外围探测器,与中心探测器位于一个平面且均匀绕其一周,所述外围探测器下端均向远离中心探测器的一侧偏转,与竖直面形成θ夹角。

本实用新型中,大晶体探测器和小晶体探测器组的高度都是可以调节的,根据探测器的实际可探测灵敏度大小来选定一个合适的高度来进行放射源的搜寻。对于探测器之间的角度,可以通过角度调节器来控制,而对于准准直器长度,可在生产的时候进行选择。

作为优选:所述小晶体探测器一共为七个。

作为优选:所述立柱为能定位的伸缩调节杆,所述外围探测器与中心探测器间设有调整θ夹角角度的角度调节器。

一种放射源搜寻装置的搜寻方法,其包括以下步骤:

(1)大晶体探测器初步确定探测范围:

(11)设待测区域为M,在该区域建立坐标系,沿横坐标在在M 区域内随机选取一条直线L1作为测量路线;将直线L1分为数个测量点;

(12)用大晶体探测器沿测量点依次测量,读取计数率,并根据计数率作强度散点图,拟合出一个带有峰的曲线,若无明显波峰或没有波峰,则重新选择直线L至出现明显波峰;

(13)在波峰两侧各选取一个点,过该点各作一条沿Y轴的直线,两直线间的区域形成带状区域A;

(14)在带状区域A内,沿纵坐标设置数个测量点,并重复步骤 (2),

(15)在步骤(14)的波峰两侧各选取一个点,过该点各作一条沿X轴的直线,两直线间的区域形成带状区域B;

(2)小晶体探测器组确定最终位置

(21)调整外围探测器与中心探测器的夹角至θ°,使每个外围探测器均分别与中心探测器形成一相交的探测区域;预设一阈值,当小晶体探测器计数超过该阈值则判断为异常计数;

(22)在区域A、B重叠范围内,随机选取测量点进行测量,并获取测量点处各小晶体探测器的计数率,直至一个外围探测器和中心探测器上出现异常计数,或仅一个外围探测器上出现异常计数;

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