[实用新型]一种测试探针

说明书

技术领域

本实用新型属于测试技术领域，涉及一种测试探针。

背景技术

探针主要类型：悬臂探针和垂直探针，根据电子测试用途可分为：A、光电路板测试探针：未安装元器件前的电路板测试和只开路、短路检测探针，国内大杆分的探针产品均可替代进口产品；B、在线测试探针：PCB线路板安装元器件后的检测探针，高端产品的核心技术还是掌握在国外公司手中，但国内杆分探针产品已研发成功，可替代进口探针产品；C、微电子测试探针：即晶圆测试或芯片IC检测探针。

目前，现有的探针结构比较复杂，导致测试稳定性差，同时，在测试过程中，往往会存在测试点口径大小不一，从而需要换测试探针，增加工作时间。所以，还有待研发出一种能够便于针头替换的测试探针。

发明内容

本实用新型的目的是针对现有的技术存在上述问题，提出了一种测试探针，本测试探针结构简单，便于替换易损针头的特点。

本实用新型的目的可通过下列技术方案来实现：

一种测试探针，包括弹簧、针头一、针头二和针头三，其特征在于，所述的针头二和针头三的测头均呈尖角，针头一的测头呈平角，针头一的外径大于弹簧的外径，且针头一上固定有连接杆一，所述的针头二螺纹连接在针头一的测头处，所述的连接杆一的外径小于弹簧的内径，连接杆一位于弹簧内，且连接杆一的外壁上开设有外螺纹一，所述的弹簧内还具有一底杆，所述的底杆包括连接杆二和与连接杆二相固定的连接杆三，所述的连接杆二的外径小于弹簧的内径，连接杆二位于弹簧内，且连接杆二的一端开设有与连接杆一上的外螺纹一相匹配的螺纹孔一，所述的连接杆三上开设有螺纹孔二，所述的针头三的一端开设有与连接杆三相匹配的外螺纹二，且连接杆三的外径大于弹簧的外径。

本测试探针中的一侧的针头一、针头二和另一侧的针头三在弹簧的作用下，能够实现双头双动，满足对待测件两侧测试的需求，针头二螺纹连接在针头一处，能够根据实际情况在需要平角测头的时候卸下针头二，便于替换更加灵活省时，针头一通过连接杆一螺纹连接在连接杆二上，针头一直接螺纹连接在连接杆三上，从而便于替换易损的针头一、针头二和针头三；同时，连接杆二和连接杆一螺纹连接，转动连接杆三能够将弹簧加压在针头一和连接杆三之间，从而来调节针头一、针头二和针头三在伸缩运动过程中的缓和程度。

在上述测试探针中，所述的针头一的测头处开设有螺纹孔三，所述的针头二的一端开设有与针头一上的螺纹孔三相匹配的外螺纹三。从而满足针头二便于从针头一处拆卸。

在上述测试探针中，所述的针头二的外径小于针头一的外径，所述的针头一的外径等于针头三的外径。针头二的外径小于针头二和针头三，从而能够根据实际情况，便于对待测位不同的孔径大小进行选择伸入检测。

在上述测试探针中，所述的针头二测头尖角的锥度为40°-65°。在实际加工过程中，针头二测头尖角的锥度为45°，从而保证接触点的灵敏度。

在上述测试探针中，所述的弹簧的自由长度为12.25-12.75mm。在实际加工过程中，弹簧的自由长度优先选取12.5。

在上述测试探针中，所述的针头一的长度为3.45-3.75mm，所述的针头二的长度为2.25-2.65mm，所述的针头三的长度为5.85-6.15mm。在实际加工过程中，针头一的长度优先选取3.5mm，针头二的长度优先选取2.4mm，针头三的长度优先选取6.1mm。

与现有技术相比，本测试探针具有以下优点：

1、本实用新型能够满足对待测件两侧测试的需求，针头二螺纹连接在针头一处，能够根据实际情况在需要平角测头的时候卸下针头二，便于替换更加灵活省时，针头一通过连接杆一螺纹连接在连接杆二上，针头一直接螺纹连接在连接杆三上，从而便于替换易损的针头一、针头二和针头三。

2、本实用新型中的连接杆二和连接杆一螺纹连接，转动连接杆三能够将弹簧加压在针头一和连接杆三之间，从而来调节针头一、针头二和针头三在伸缩运动过程中的缓和程度。

附图说明

图1是本实用新型的剖视结构示意图。

图中，1、弹簧；2、针头一；3、针头二；4、针头三；5、连接杆一；6、连接杆二；7、连接杆三。

具体实施方式

以下是本实用新型的具体实施例并结合附图，对本实用新型的技术方案作进一步的描述，但本实用新型并不限于这些实施例。