[实用新型]环状多任务器的射频切换装置

说明书

技术领域

本新型为提供一种环状多任务器的射频切换装置，尤指一种结构简单、可自由扩充测试埠、自由切换测试定义，以满足高变化性测试需求的环状多任务器的射频切换装置。

背景技术

按，自动测试设备经常被用来测试器件与组件。有许多类型的自动测试设备透过接口与一控制该测试设备的主计算机连接，该主计算机提供数据给测试设备或从测试设备获得数据。随着器件愈形复杂，必须往返于更多测试位置(即受测器件)，通讯的数据量也不断增加。因此，测试设备与主计算机之间必须传送的数据量愈来愈多。

且由于切换器随着智能型手机的蓬勃发展，需要量测的测试埠数量及其变化性越来越高，现有的测试机虽然可以一对多的进行测试，但测试埠数量的需求大幅膨胀，导致供不应求，且因测试源为同一台测试机，故无法对两待测物进行「对量」(待量测的两个讯号接到同一测试机，表示测试端必须同样为输入源或输出源，而无法同时观测)，导致无法应付高变化性的测试方案。再者，一对多的测试机往往需要较高的制造成本，且当同时连结多个待测物时，其产生的高功率更有可能造成机台损坏。

然上述一对多测试机于使用时，为确实存在下列问题与缺失尚待改进：

一、测试埠数量仍然不敷需求，且无法扩充。

二、同时测量多个待测物时，容易因高功率导致设备毁损。

三、量测系统模式较单调，无法应付多变之测试方案。

是以，要如何解决上述习用的问题与缺失，即为本新型的申请人与从事此行业的相关厂商所亟欲研究改善的方向所在者。

实用新型内容

故，本新型的申请人有鉴于上述缺失，乃搜集相关资料，经由多方评估及考虑，并以从事于此行业累积之多年经验，经由不断试作及修改，始设计出此种结构简单、可自由扩充测试埠、自由切换测试定义，以满足高变化性测试需求的环状多任务器的射频切换装置的新型专利者。

本新型之主要目的在于：简单快速的扩充测试埠的数量，并得以自由切换定义之量测系统。

本新型之另一主要目的在于：降低多埠测试的成本需求。

为达上述目的，本新型的结构包括：一第一切换芯片，且于该第一切换芯片上设置复数第一端子，并于该第一切换芯片一侧设置至少一与该第一切换芯片电性链接之第二切换芯片，且于该第二切换芯片上设置复数第二端子，再于该第二切换芯片背离该第一切换芯片一侧设置一第三切换芯片，电性链接该第一切换芯片及该第二切换芯片，使该第一切换芯片、该第二切换芯片及该第三切换芯片形成环状串联，且于该第三切换芯片上设置复数第三端子；俾当用户将本新型用于射频芯片的切换芯片测试时，将第一切换芯片、第二切换芯片及第三切换芯片，以环状串联的方式设置于一电路基板上，并透过第一端子与第三端子链接一网络分析仪，而第二端子则用来连结至少一个待测装置，如此即可完成测试埠的扩充。且当第二切换芯片为复数时，即可透过复数个第二端子来完成多埠对量等其他定义的量测系统。

藉由上述技术，可针对习用一对多测试机所存在的测试埠数量不足、及测试埠无法扩充等问题点加以突破，达到上述优点的实用进步性。

附图说明

图1为本新型较佳实施例的立体图。

图2为本新型较佳实施例的结构方块图。

图3为本新型较佳实施例的实施示意图。

图4为本新型再一实施例的实施示意图。

图5为本新型又一实施例的实施示意图。

具体实施方式

为达成上述目的及功效，本新型所采用之技术手段及构造，兹绘图就本新型较佳实施例详加说明其特征与功能如下，俾利完全了解。

请参阅图1及图2所示，为本新型较佳实施例的立体图及结构方块图，由图中可清楚看出本新型之射频切换装置1系透过下述电源连结部22、32、42电性连结至一电路基板8上，且该射频切换装置1系包括：

一第一切换芯片2；

复数设于该第一切换芯片2上的第一端子21，且该些第一端子21界定有一第一连结部211、一位于该第一连结部211一侧之第一对接部212、及一位于该第一对接部212一侧的第一测试连结部213；

至少一设于该第一切换芯片2一侧且与该第一切换芯片2电性链接的第二切换芯片3；

复数设于该第二切换芯片3上的第二端子31，且该些第二端子31界定有一第二连结部311、一位于该第二连结部311一侧的第二对接部312、及一位于该第二对接部312一侧的第二测试连结部313；