[实用新型]一种浅盲孔电子塞规

说明书

技术领域

本实用新型属于孔径测量技术领域，尤其涉及一种浅盲孔电子塞规。

背景技术

目前，在测量内径的尺寸公差、尺寸分组时，绝大部分生产商普遍采用传统的量具，如千分尺、内径千分表、光滑极限量规、带表深度规等，部分生产商采用气动类测量，用气动浮标式量仪显示。这两种测量方式效率低，并且读数易产生人为误差，还具有数据统计分析困难、使用寿命短等缺陷，尤其现阶段机加工产品中存在很多浅盲孔，在遇到加工浅盲孔测量时无法测量，目前在浅盲孔测量中大多采用进口产品，但是其价格昂贵，使用性价比较低。

实用新型内容

本实用新型为了解决现有技术中的不足之处，提供一种操作简单、经济实惠的浅盲孔电子塞规，其适用于浅盲孔孔径的测量，且测量精度高。

为解决上述技术问题，本实用新型采用如下技术方案：一种浅盲孔电子塞规，包括塞规手柄壳体，所述塞规手柄壳体内设置有两个上下对称设置的放大杆，且两个放大杆均与所述塞规手柄壳体的中轴线平行，两个放大杆的右端部均位于所述塞规手柄壳体内，每个放大杆的右端部处均固定设有磁芯线圈，两个磁芯线圈上下对应，两个放大杆的左端部沿其轴向延长线方向均固定连接有测杆，测杆与放大杆的连接部均设置有弹性体，弹性体通过弹性体安装座与所述塞规手柄壳体连接，对应的测杆、放大杆与弹性体形成弹性杠杆结构；所述塞规手柄壳体的左端部沿其轴向延长线方向均可拆卸固定连接有定位套，所述两个测杆均位于定位套内，且两个测杆的左端部均固定设置有沿径向朝外的测头，测头的外边沿凸出于所述定位套；两个放大杆之间连接有拉簧。

两个放大杆上设置有内限位结构，内限位结构包括分别设置在两个放大杆上的限位钉和设置在两个放大杆之间的限位块，限位块与塞规手柄壳体固定连接，所述限位钉由外至内穿过对应的放大杆，且螺钉的内端部与限位块对应并保留有间距。

两个放大杆上设置有外限位结构，外限位结构包括依次穿过两个放大杆的连接螺栓，连接螺栓的螺杆部与其中一个放大杆螺纹连接，连接螺栓的头部位于另一个放大杆的外侧，且连接螺栓的光杆部与该放大杆滑动配合。

所述连接螺栓的螺杆部上配设有锁紧螺母。

所述定位套外套设有与其滑动配合的定位挡环。

所述塞规手柄壳体的右端部设有供所述磁芯线圈出线的出线套。

所述弹性体为薄片弹性体。

所述测头由硬质合金制成。

本实用新型的有益效果：

采用上述技术方案，测量时将定位套放入被测孔中，测头接触工件测量位置，定位套起到导向定位作用，孔径值大小的变化引起测杆收张，进而引起弹性体弹性变形，弹性体其到支点作用将使放大杆进一步收张，进而引起磁芯线圈位移变化。通过线圈电信号的变化量来计算孔径值大小，此测量就是将机械位移量转化为电信号的一种测量方式。

本实用新型操作简单、经济实惠，其适用于浅盲孔孔径的测量，且测量精度高，被测孔径及测量深度范围大，被测孔径公差值小，测量重复性好，测量力小。

两个放大杆上设置有内限位结构，内限位结构包括分别设置在两个放大杆上的限位钉和设置在两个放大杆之间的限位块，限位块与塞规手柄壳体固定连接，所述限位钉由外至内穿过对应的放大杆，且限位钉的内端部与限位块对应并保留有间距，上述内限位结构的设计能够避免放大杆向内收缩过多，保证磁芯线圈的精度和使用寿命。

两个放大杆上设置有外限位结构，外限位结构包括依次穿过两个放大杆的连接螺栓，连接螺栓的螺杆部与其中一个放大杆螺纹连接，连接螺栓的头部位于另一个放大杆的外侧，且连接螺栓的光杆部与该放大杆滑动配合，上述外限位结构的设计能够避免放大杆向外扩张过狠，保证磁芯线圈的精度和使用寿命。

所述定位套外套设有与其滑动配合的定位挡环，测量时定位挡环位于盲孔外，起到定位效果，且定位挡环可根据不同规格测量，选用不同的规格。

附图说明

图1是本实用新型的结构示意图。

具体实施方式

如图1所示，本实用新型的一种浅盲孔电子塞规，包括塞规手柄壳体9，所述塞规手柄壳体9内设置有两个上下对称设置的放大杆11，且两个放大杆11均与所述塞规手柄壳体9的中轴线平行，两个放大杆11的右端部均位于所述塞规手柄壳体9内，每个放大杆11的右端部处均固定设有磁芯线圈8，两个磁芯线圈8上下对应，两个放大杆11的左端部沿其轴向延长线方向均固定连接有测杆3，测杆3与放大杆11的连接部均设置有弹性体5，该弹性体5为薄片弹性体，弹性体5通过弹性体安装座14与所述塞规手柄壳体9连接，对应的测杆3、放大杆11与弹性体5形成弹性杠杆结构。