[实用新型]一种数字阵列天线的通道特性测试及配相校准系统有效
申请号: | 201621215137.X | 申请日: | 2016-11-11 |
公开(公告)号: | CN206161743U | 公开(公告)日: | 2017-05-10 |
发明(设计)人: | 李论;韩啸 | 申请(专利权)人: | 南京鑫轩电子系统工程有限公司 |
主分类号: | G01R29/10 | 分类号: | G01R29/10;G01S7/40 |
代理公司: | 南京天翼专利代理有限责任公司32112 | 代理人: | 朱戈胜,查俊奎 |
地址: | 210003 江苏省南京*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 数字 阵列 天线 通道 特性 测试 校准 系统 | ||
技术领域
本实用新型涉及微波技术中的天线领域,特别是数字阵列天线的通道特性测试及配相校准系统。
背景技术
随着有源相控阵雷达的工程应用发展,未来有源相控阵天线多采用子阵级数字阵列(或单元级数字阵列),以获得超低收发副瓣或特殊波束,并且信号处理方式灵活;同时具有发射,接收多波束,形成自适应零点抗干扰,模块之间的幅相校正较为简单等优势。所述子阵级数字化阵列天线简称为数字阵列天线,其主要由数字T/R组件和天线组成,数字T/R组件又包括较多无源元件,各类部件的性能差异和装配误差都会带来发射通道和接收通道间的幅度和相位的不一致,引起子阵级数字化阵列天线波束恶化(如副瓣电平抬高、零值深度上升、波束指向偏移、雷达系统灵敏度下降等),应对其校正。由于子阵级数字化阵列天线在收发端已经数字化,纯模拟有源相控阵的幅相测试和校准系统不能支持子阵级数字化阵列天线的配相工作。
实用新型内容
本实用新型的目的是提供一种数字阵列天线的通道特性测试及配相校准系统,完成子阵级数字化阵列天线的收发通道的幅相测试和校准功能。
为了上述目的,本实用新型采用的技术方案具体是:一种数字阵列天线的通道特性测试及配相校准系统,用于测试并且校准所述数字阵列天线的发射通道和接收通道的幅度和相位,包括标准数字T/R组件、工控机、第一光纤、第二光纤、矢量网络分析仪、第一射频电缆、第二射频电缆、第三射频电缆和探头,所述工控机与第一光纤的一端连接,所述第一光纤的另一端用于连接被测数字阵列天线中的数字T/R组件的数据接口,所述工控机与第二光纤的一端连接,所述第二光纤的另一端与标准数字T/R组件的数据接口连接,测发射通道时所述标准数字T/R组件的射频信号端口与第一射频电缆的一端连接,测接收通道时所述标准数字T/R组件的射频信号端口与第二射频电缆的一端连接,所述第一射频电缆的另一端与矢量网络分析仪的1端口连接,所述探头与第三射频电缆的一端连接,所述第二射频电缆和第三射频电缆的另一端与矢量网络分析仪的2端口连接,所述矢量网络分析仪的数据通讯端口通过GPIB线与工控机连接。
进一步地,包括扫描架及其控制系统,所述扫描架包括固定件和沿固定件上下运动的运动件, 所述控制系统控制运动件上下移动,所述探头设置在扫描架的运动件上。所述探头可根据被测的数字阵列天线的高度来调整其高度。
进一步地,包括天线支架,所述天线支架与扫描架同方向设置,所述天线支架用于固定被测的数字阵列天线。
与现有技术相比,本实用新型的有益效果是:该系统可以直接用于数字阵列通道的幅相测试,通过自动化控制和数据采集得到一系列数据,并对数据进行处理和分析,得到数字阵列天线的各单元的不一致性,实现单元加工精度和性能的检测。根据测试得到的各单元中场数据,利用数字阵列自动控制系统实现对数字阵列天线的配相。数据处理量大,数据处理速度快,测试精度高。
附图说明
图1所示为本实用新型的结构示意图。
图中,1、标准数字T/R组件 2、工控机 3、第一光纤 4、第二光纤 5、矢量网络分析仪 6、第二射频电缆 7、第一射频电缆 8、第三射频电缆 9、探头 10、扫描架 11、扫描架的控制系统。
具体实施方式
下面结合附图对本实用新型的具体实施方式做进一步说明,以使更能理解本实用新型的创造点所在。
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