[实用新型]一种测试辅助设备、自动测试装置

说明书

技术领域

本实用新型属于电路板制造领域，涉及一种辅助设备，特别是涉及一种测试辅助设备、自动测试方法及装置。

背景技术

集成电路(IntegratedCircuit，IC)是一种微型电子器件，通过采用一定的工艺，把一个电路中所需要的晶体管、二极管、电阻、电容和电感等元件及布线互连在一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构。对电子产品进行电路参数测试时，一般是对电子产品的集成电路进行电路参数测试。对集成电路进行电路参数测试时，需要将集成电路的各个功能引脚通过集成电路转接板连接到测试装置。而数字万用表就是进行电路测试时不可或缺的工具。用数字万用表测试时，需反复手动选择数字表的档位和移动红黑表棒至需要测试的测试点。当技术原因需连续快速测试时，手动作业就难以完成。例如，当需要对电路板上的一些电路参数进行测试时，要用数字表一个一个参数进行测试。需反复调整数字表的档位和表棒位置，并目视读取记录。换一片电路板时，再重复上述过程。操作繁琐，且容易出错，且对于有时间限制的参数测试需设计辅助电路。

因此，如何提供一种测试辅助设备、自动测试装置，以解决现有技术在对集成电路板进行连续快速的电路参数测试时，手动作业难以完成、操作繁琐，容易出错等缺陷，实已成为本领域从业者亟待解决的技术问题。

实用新型内容

鉴于以上所述现有技术的缺点，本实用新型的目的在于提供一种测试辅助设备、自动测试装置，用于解决现有技术中在对集成电路板进行连续快速的电路参数测试时，手动作业难以完成、操作繁琐，容易出错的问题。

为实现上述目的及其他相关目的，本实用新型一方面提供一种测试辅助设备，与待测电路连接，所述测试辅助设备包括：中心控制板，用于接收源于一处理器输出的测试指令，并解读该测试指令将其下发；所述测试指令中包括所述处理器已选择的需测试的电路参数及所述处理器已设置的指令传输路径；至少一组多卡槽转接板，与所述中心控制板连接，用于中转所述测试指令；至少一组可插入式受控开关组板，分别插入所述多卡槽转接板和所述待测电路上至少一测试电路点上，以接入所述测试指令，启动所述测试辅助设备，测试所述测试电路点的电路参数。

于本实用新型的一实施例中，所述中心控制板与所述处理器之间通过串行接口连接。

于本实用新型的一实施例中所述中心控制板采用单片机芯片。

于本实用新型的一实施例中，所述多卡槽转接板包括：两线式串行总线中转芯片，用于将所述测试指令中转成测试指令数据信号和时序信号，并将其放大；多个卡槽，集成在所述两线式串行总线中转芯片上，用于传输中转后的测试指令数据信号和时序信号。

于本实用新型的一实施例中所述可插入式受控开关组板包括：两线式串行总线端口扩展芯片，以两线式串行接口方式插入在多卡槽转接板上，用于接收所述中转后的测试指令数据信号和时序信号；继电器组，与两线式串行总线端口扩展芯片连接，用于根据所述测试指令数据信号、时序信号、和指令传输路径推动对应的继电器中电子开关动作，以插入测试电路点。

于本实用新型的一实施例中，所述可插入式受控开关组板的数量由所述待测电路上的测试电路点的数量确定；且所述可插入式受控开关组板上设置有若干个两线式串行总线端口。

本实用新型另一方面提供一种自动测试装置，应用于待测电路，所述待测电路上具有若干测试电路点，所述自动测试装置包括：测试器，用于测试所述待测电路上测试电路点的电路参数；处理器，与所述测试器连接，用于输出测试指令；及与所述处理器连接的，所述的测试辅助设备；当所述测试辅助设备启动后，所述处理器通过所述测试辅助设备读取所述测试电路点的电路参数。

于本实用新型的一实施例中所述测试器为具有串行通信功能的数字万用表；所述数字万用表的红表棒和黑表棒分别插入至所述多卡槽转接板。

于本实用新型的一实施例中，所述电路参数包括测试电路点的电阻、电流、电压、电感、频率、晶体管和/或MOS管特性。

如上所述，本实用新型的测试辅助设备、自动测试方法及装置，具有以下有益效果：

本实用新型所述的测试辅助设备、自动测试装置通过测试辅助设备可以自动、连续、快速的完成电路参数测试，操作容易，且精确地获取到电路板的电路参数，更在有时间限制的电路参数测试时无需增加辅助电路。

附图说明

图1显示为本实用新型的测试辅助设备于一实施例中的结构示意图。

图2显示为本实用新型的测试辅助设备中可插入式受控开关组板于一实施例中的结构示意图。