[实用新型]成像光谱仪

说明书

技术领域

本实用新型涉及成像光谱仪技术领域，尤其涉及一种可提高荧光探测效率的成像光谱仪。

背景技术

成像光谱仪最初用于地面矿物的识别，后来在摄影测量与遥感、显微成像等许多领域均有应用。成像光谱仪的最基本结构是：狭缝-透镜-光栅-透镜-相机。狭缝用于选取单条线上的样品信息，光栅将样品的光谱分离，不同的光谱成像在相机感光面的不同线阵列上。相机每拍摄一张图，相当于得到了样品上一条线的信息，这时再改变样品的位置，相机将得到另一条线上的信息，如此重复就得到一个二维平面的光谱和结构信息。

但当样品发出的荧光很弱而且发散度较大时，狭缝的空间选择性会阻挡许多有效的荧光光子，导致荧光探测效率很低。

实用新型内容

有鉴于此，为了克服现有技术的缺陷和问题，本实用新型提供一种可提高荧光探测效率的成像光谱仪。

一种成像光谱仪，其包括沿光线传输方向依次设置的振镜组或柱面镜、第一透镜、反射镜、第二透镜、二向色镜、物镜、光栅、成像透镜及相机，所述第一透镜和所述第二透镜垂直设置，所述反射镜设于所述第一透镜的焦点处，样品设置于所述物镜出射激光的一端，所述反射镜、所述第二透镜、所述二向色镜、所述物镜和所述样品设于同一直线上，飞秒激光射向所述振镜组或柱面镜，经所述第一透镜聚焦于所述反射镜，被所述反射镜反射至所述第二透镜准直并射向所述二向色镜，所述二向色镜透射激光而反射荧光，透射过所述二向色镜的飞秒激光经所述物镜后射向样品，样品中的荧光粉受所述飞秒激光的激发产生荧光并射向所述二向色镜，荧光被所述二向色镜反射至所述光栅进行光谱分离，经所述光栅光谱分离后的荧光经过所述成像透镜并成像于所述相机的感光面。

本实用新型一较佳实施方式中，所述振镜组包括第一机械振镜和第二机械振镜，所述第一机械振镜的扫描方向为快轴，所述第二机械振镜的扫描方向为垂直于所述快轴的慢轴。

本实用新型一较佳实施方式中，所述第一机械振镜和所述第二机械振镜相互平行设置。

本实用新型一较佳实施方式中，所述第一机械振镜和所述第二机械振镜相对于水平方向45°设置。

本实用新型一较佳实施方式中，所述反射镜和所述二向色镜相互垂直，且所述二向色镜相对于水平方向45°设置。

本实用新型一较佳实施方式中，所述光栅垂直于水平方向设置。

相较于现有技术，本实用新型提供的成像光谱仪通过飞秒激光对样品进行线照明，利用双光子荧光激发效应的空间选择性，替代了一般光谱仪的狭缝结构，提高了成像光谱仪的荧光探测效率，再通过机械振镜扫描照明线或移动样品的方式能重构出一幅二维光谱图像。本实用新型的成像光谱仪在摄影测量与遥感、显微成像、地质矿物识别等应用领域均有应用价值。

附图说明

图1为本实用新型第一实施例提供的使用振镜扫描形成飞秒激光照明线的成像光谱仪的示意图；

图2为本实用新型第二实施例提供的使用柱面镜形成飞秒激光照明线的成像光谱仪示意图；

图3位光谱像在相机感光面上的分布示意图。

具体实施方式

为了便于理解本实用新型，下面将参照相关附图对本实用新型进行更全面的描述。附图中给出了本实用新型的较佳实施方式。以上仅为本实用新型的优选实施例，并非因此限制本实用新型的专利范围，凡是利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本实用新型的专利保护范围内。

除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本实用新型的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本实用新型的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施方式的目的，不是旨在于限制本实用新型。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。

请参阅图1，本实用新型第一实施例提供一种成像光谱仪，其包括沿光线传输方向依次设置的第一机械振镜21和第二机械振镜22、第一透镜23、反射镜31、第二透镜32、二向色镜35、物镜33、光栅36、成像透镜37及相机38。第一透镜23和第二透镜32垂直设置，反射镜31设于第一透镜23的焦点处。反射镜31、第二透镜32、二向色镜35、物镜33和样品34设于同一直线上。

飞秒激光11依次经过第一机械振镜21、第二机械振镜22、第一透镜23、反射镜31、第二透镜32、二向色镜35及物镜33后到达样品34。