[实用新型]样品环及X荧光光谱仪有效

专利信息
申请号: 201621073834.6 申请日: 2016-09-22
公开(公告)号: CN206161409U 公开(公告)日: 2017-05-10
发明(设计)人: 董清世;钱桂云 申请(专利权)人: 信义环保特种玻璃(江门)有限公司
主分类号: G01N1/36 分类号: G01N1/36;G01N23/223
代理公司: 深圳中一专利商标事务所44237 代理人: 张全文
地址: 529080 广东省江门市高*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 样品 荧光 光谱仪
【说明书】:

技术领域

实用新型属于X荧光光谱仪分析技术领域,尤其涉及一种样品环以及X荧光光谱仪。

背景技术

用于X荧光光谱仪分析的样品需要制成片状才能用于仪器分析,制片的方法一般有熔融法和压片法。压片法是将粉末样品放入特制的模具中,高压成型,样品环就是其中一种用于成型的简易模具。

现有压片法的模具大部分采用铝环,使用过程中由于高压作用容易变型,压出来的片不稳定,存在开裂和脱落的现象,且由于铝环成本较高,需要反复使用,每使用一次就要对模具清洗一次,生产效率较低。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种样品环,用于制作X荧光光谱仪的试片,旨在解决现有技术中压片环成型质量不稳定,使用成本较高的技术问题。

本实用新型是这样实现的,一种用于制作X荧光光谱仪中的试片样品环,为中间设有通孔且由PVC材料制成的环状体,所述环状体的径向厚度为2±0.02mm以及轴向高度为4±0.1mm。

具体地,所述环状体的内径为36±0.02mm、外径为40±0.02mm。

优选地,所述环状体的内径为36mm、外径为40mm。

优选地,所述环状体的轴向高度为4mm。

具体地,所述样品环为利用PVC给水管经车床加工得到的所述环状体。

本实用新型提供的一种X荧光光谱仪,包括压片,所述压片为通过将上述样品环应用于压片机中所制得的试片。

本实用新型相对于现有技术的技术效果是:该样品环采用PVC材料制成,成本低廉、简单易用,且采用此径向厚度和轴向高度的样品环所制得的压片具有压片质量稳定,表面很少存在开裂和脱落现象。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例的技术方案,下面将对本实用新型实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面所描述的附图仅仅是本实用新型的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本实用新型实施例提供的样品环的立体示意图;

图2是图1中样品环的主视图;

图3是图1中样品环的剖视图。

具体实施方式

下面详细描述本实用新型的实施例,所述实施例的示例在附图中示出,其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的,旨在用于解释本实用新型,而不能理解为对本实用新型的限制。

为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本实用新型进行进一步详细说明。

请参考附图1至图3,本实用新型实施例提供的样品环用于制作X荧光光谱仪中的试片,所述样品环为中间设有通孔2且由PVC材料制成的环状体1,所述环状体1的径向厚度W1为2±0.02mm以及轴向高度W2为4±0.1mm。本实用新型实施例提供的样品环采用PVC材料制成,成本低廉、简单易用,且采用此径向厚度W1和轴向高度W2的样品环所制得的压片具有压片质量稳定,表面很少存在开裂和脱落现象。

在该实施例中,所述PVC材料的颜色为蓝色,所述PVC材料也可以是其它颜色,不限于此。

请参照图1和图2,具体地,所述环状体1的内径d为36±0.02mm、外径D为40±0.02mm。通过设置所述环状体1的内外径大小,以使所述环状体1与压片机相匹配,即通过在压片机下使用样品粉末及粘接剂等原材料所制成的压片尺寸大小合适,且压片表面平滑无裂纹。

请参照图1和图2,优选地,所述环状体1的内径d为36mm、外径D为40mm。采用此内外径的环状体1所制成的压片质量稳定可靠,精确的制造尺寸也避免了由于样品环的细微差别对样品分析可能造成的影响。

请参照图1和图3,优选地,所述环状体1的轴向高度W2为4mm。采用此轴向高度W2的样品环具有较好的机械强度,在压片机下弹性形变在可控范围内。

具体地,所述样品环为利用PVC给水管经车床加工得到的所述环状体1。由于PVC给水管取材方便,加工工艺简单且所得的环状体1性能稳定,因此制造加工成本较低。

请参照图1至图3,本实用新型实施例提供的X荧光光谱仪包括压片,所述压片为通过将上述各实施例中的样品环应用于压片机中制得的试片。该实施例提供的样品环与上述各实施例中的样品环具有相同的结构,且所起作用相同,此处不赘述。采用此种样品环制得的试片,通过X荧光光谱仪能较为准确的对试样物质的元素进行成分分析。

以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已,并不用以限制本实用新型,凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等,均应包含在本实用新型的保护范围之内。

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