[实用新型]用于大型结构物变形或位移参数的自校准式测量装置有效

专利信息
申请号: 201620834141.8 申请日: 2016-08-03
公开(公告)号: CN206223096U 公开(公告)日: 2017-06-06
发明(设计)人: 高文武;屈战辉 申请(专利权)人: 西安敏文测控科技有限公司
主分类号: G01B11/02 分类号: G01B11/02;G01B11/16
代理公司: 西安文盛专利代理有限公司61100 代理人: 李中群
地址: 710100 陕西省西安市航*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 用于 大型 结构 变形 位移 参数 校准 测量 装置
【权利要求书】:

1.用于大型结构物变形或位移参数的自校准式测量装置,包括数据处理中心、成像系统(12)和安装在大型结构物(11)测量点上的不少于一只的测量靶标(13),其特征在于:还包括安装在大型结构物(11)上变形或位移变化可忽略区域的基准靶标(14),所述的基准靶标(14)和测量靶标(13)在成像系统(12)的敏感元的不同位置上成像,数据处理中心获取成像系统的测量结果后,根据基准靶标和测量靶标的测量结果,计算得到测量点的位移或变形参数。

2.根据权利要求1所述的用于大型结构物变形或位移参数的自校准式测量装置,其特征在于:所述的大型结构物(11)包括桥梁、大坝、隧道、斜坡和房屋建筑。

3.根据权利要求1所述的用于大型结构物变形或位移参数的自校准式测量装置,其特征在于:所述的成像系统(12)、测量靶标(13)和基准靶标(14)通过不同长度的支杆固定在大型结构物上,使得测量靶标(13)和基准靶标(14)在成像系统(12)的敏感元的不同位置上成像。

4.根据权利要求1所述的用于大型结构物变形或位移参数的自校准式测量装置,其特征在于:所述的基准靶标(14)和测量靶标(13)为图案或连续工作的加电靶标。

5.根据权利要求4所述的用于大型结构物变形或位移参数的自校准式测量装置,其特征在于:所述的加电靶标为排成一定形状的LED或LD灯带。

6.根据权利要求1所述的用于大型结构物变形或位移参数的自校准式测量装置,其特征在于:所述的成像系统通过无线GPRS系统、无线移动网络传输模块或光缆传输系统将测量结果传输至数据处理中心。

7.根据权利要求1所述的用于大型结构物变形或位移参数的自校准式测量装置,其特征在于:所述的成像系统包括光学镜头(1)、图像传感器(2)、核心控制功能单元(5)、处理存储单元(6)和远程通讯单元(4);所述的图像传感器(2)为CCD或CMOS传感器,所述的核心控制功能单元(5)包括触发信号检测模块、图像数据采集模块、图像灰度化及缩放模块和靶标图像特征提起及识别模块,用于靶标图像的处理和识别;所述的处理存储单元(6)与核心控制功能单元(5)相联,用于图像数据的存储和处理;所述的远程通讯单元(4)与处理存储单元(6)联接,用于图像数据的远程发送。

8.根据权利要求1所述的用于大型结构物变形或位移参数的自校准式测量装置,其特征在于:所述的成像系统(12)为CCD像机或CMOS传感器。

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