[实用新型]一种宇航用元器件试验结构

权利要求书

1.一种宇航用元器件试验结构，其特征在于，包括夹具本体(1)和盖板(3)，夹具本体(1)为立方体结构，每个面为内嵌式结构，在每个面上设置有放置CCD图像传感器的样品放置孔(2)，每个面上的样品放置孔(2)轴对称或中心对称，防止CCD图像传感器在振动过程中产生共振；在样品放置孔(2)上开有引脚固定孔，带有引脚的CCD图像传感器可插入夹具本体(1)的引脚固定孔中；

盖板(3)可覆盖于样品放置孔(2)上，盖板(3)上设有平面阶梯结构，与CCD图像传感器的玻璃平面和陶瓷平面组成的阶梯结构配合，盖板(3)与夹具本体(1)连接以压紧置于样品放置孔(2)上的CCD图像传感器，使冲击力均匀分配到CCD图像传感器的各个平面。

2.如权利要求1所述的一种宇航用元器件试验结构，其特征在于，夹具本体(1)和盖板(3)为同种金属材质。

3.如权利要求1所述的一种宇航用元器件试验结构，其特征在于，每个面的样品放置孔(2)厚度为0.6cm～1.3cm。

4.如权利要求2所述的一种宇航用元器件试验结构，其特征在于，同种金属材质优选铝合金。

5.如权利要求1所述的一种宇航用元器件试验结构，其特征在于，每个面的样品放置孔(2)上放置金、银或铝薄片，以实现CCD图像传感器与夹具本体(1)刚性固定，并均匀受力。

6.如权利要求1所述的一种宇航用元器件试验结构，其特征在于，引脚固定孔为盲孔或通孔。

7.如权利要求1所述的一种宇航用元器件试验结构，其特征在于，引脚与引脚固定孔为间隙配合，配合间隙为0.2mm～0.5mm。

8.如权利要求1所述的一种宇航用元器件试验结构，其特征在于，盖板(3)与样品放置孔(2)一对一设置。

9.如权利要求1所述的一种宇航用元器件试验结构，其特征在于，每个面的样品放置孔(2)被一个盖板全部覆盖。

10.如权利要求1所述的一种宇航用元器件试验结构，其特征在于，盖板(3)压紧置于样品放置孔(2)上的CCD图像传感器时，盖板(3)低于样品放置孔(2)的高度。