[实用新型]一种用于原子荧光光谱仪的光学系统

说明书

技术领域

本实用新型涉及原子荧光光谱仪技术领域，尤其涉及一种用于原子荧光光 谱仪的光学系统。

背景技术

原子荧光光谱分析是20世纪60年代中期提出和发展起来的光谱分析技 术，是一种用激发光源照射含有待测元素的自由原子蒸气，使待测元素由基态 原子跃迁到激发态，当从激发态返回到基态时，发射出特征光谱，通过检测特 征谱线的发射强度来进行定量分析的痕量元素分析方法。

我国的原子荧光的研制始于上个世纪70年代中期，其基于氢化物发生与原 子荧光联用。从80年代中期开始至今，商业化的氢化物发生-无色散原子荧光光 谱仪得到了飞速发展，现已成为我国分析实验室中分析无机元素最为有效的常 用分析技术之一，适用于As、Sb、Bi、Hg、Se、Te、Ge、Sn、Pb、Zn、Cd等 元素的痕量检测，已被广泛应用于地质、冶金、环保、农业、食品、材料科学 等众多领域。

现有的原子荧光光谱仪的光学系统均采用“多个光源对应一个检测器”的 模式，即用一个日盲光电倍增管来同时检测多个光源激发的原子荧光，形成“多 道同测”。目前，市场上已有单道、双道、三道和四道同测的原子荧光光谱仪。 其中，各个光源水平放置，并与原子化器成直角分布，其激发光在原子化器上 形成的激发区域基本为圆形(如图1和2所示)。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种用于原子荧光光谱仪的光学系统。

本实用新型所提供的用于原子荧光光谱仪的光学系统，包括原子化器、检 测器、至少两个聚焦透镜和至少一个激发光源，所述原子化器与水平面垂直设 置，所述至少一个激发光源排布在所述原子化器周围，所述激发光源的出光侧 设有至少一个聚焦透镜，所述检测器的入光侧设有至少一个聚焦透镜，所述激 发光源发出的光经过所述激发光源的出光侧的至少一个聚焦透镜汇聚在所述原 子化器的上方，被激发的原子辐射出的荧光经所述检测器的入光侧的至少一个 聚焦透镜聚焦后进入所述检测器，其中，所述激发光源与所述水平面形成夹角， 使得激发光在所述原子化器上形成的激发区域为椭圆形。

其中，所述夹角的角度在5-85°之间。

其中，所述激发光源的数量在1-8个之间。

其中，当存在至少两个所述激发光源时，至少两个所述激发光源发出的光 经过所述激发光源的出光侧的至少一个聚焦透镜汇聚在所述原子化器的上方的 同一个点上。或者，当存在至少两个所述激发光源时，至少两个所述激发光源 发出的光经过所述激发光源的出光侧的至少一个聚焦透镜汇聚在通过所述原子 化器的中心点且垂直于所述水平面的一条直线上。

本实用新型的用于原子荧光光谱仪的光学系统与现有技术相比具有如下优 点：在聚焦透镜焦距相同的情况下，即在不改变激发光强的情况下，扩大了激 发光在原子化器上的激发区域，从而提高了原子荧光强度，提高了仪器的灵敏 度，降低了其检出限，提高了原子荧光光谱仪的性能指标。

附图说明

图1为现有的原子荧光光谱仪的激发光源与原子化器的位置关系的示意图；

图2为现有的原子荧光光谱仪的激发光在原子化器上形成的激发区域；

图3为本实用新型的一个具体实施方式的原子荧光光谱仪的光学系统结构 的俯视示意图；

图4为本实用新型的一个具体实施方式的原子荧光光谱仪的光学系统的激 发光源与原子化器的位置关系的示意图。

图5为本实用新型的一个具体实施方式的原子荧光光谱仪的光学系统的激 发光在原子化器上形成的激发区域。

具体实施方式

下面结合附图对本实用新型作进一步说明。