[实用新型]半导体器件测试仪

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种测试仪，具体涉及一种半导体器件测试仪。

背景技术

目前，现有技术对于半导体器件的参数测试均采用半导体器件测 试仪，现有技术的半导体测试仪的机构包括测试仪本体和操作平台， 所述操作平台凹陷于测试仪本体中，在具体测试半导体器件性能时， 会将半导体器件固定在操作平台中，并对半导体器件通过一定电压或 电流读取该半导体器件的参数。

但随着半导体器件的应用领域的拓展，很多半导体器件需要在不 透光的情况下使用，所以其参数自然也需要在不透光的情况下进行测 试，但是目前对于这种半导体的测试，并没有较为稳定的测试仪器。

目前针对半导体器件在黑暗环境中的参数测试，如中国专利 201010224333.4公开了EL测试仪的拉板遮光装置，包括EL测试仪、组 件支架、滑动遮光板和滑动导轨，所述滑动导轨固定在EL测试仪的上 端，且位于组件支架的前侧边和后侧边上，在滑动遮光板的前后两侧 边上设有与滑动导轨配合的滑槽，在滑动导轨与滑动遮光板接触的部 分安装了滚动体，在EL测试仪的右端顶面与组件支架之间的落差段固 定有延伸杆，所述滑动导轨固定在组件支架和延伸杆的上端面上，滑 动导轨的长度略大于组件支架的宽度的两倍。

这样的结构是采用滑动遮光板的方式对太阳能电池板的性能进 行测试，但存在的问题是通过手动的方式对光线进行遮挡，不仅不能 确保遮光的效果，同时还可能对测试结果造成误差。

综上所述，可以看出目前现有技术的半导体器件遮光下参数的测 试稳定性较差。

实用新型内容

针对现有技术中的问题，本发明提供一种可测试半导体器件在黑 暗环境中的参数同时可保证测试参数准确性和测试稳定性的半导体 器件测试仪。

为实现以上技术目的,本发明的技术方案是:一种半导体器件测 试仪，包括测试仪本体，所述测试仪本体上设有操作平台，所述操作 平台凹陷于测试仪本体中，所述操作平台上还设有不透光的罩壳，所 述罩壳与测试仪本体转动配合且所述罩壳可将操作平台保持密闭。

作为优选，还包括电机，所述的电机安装在测试仪本体中且所述 的电机的转轴与罩壳相连。

作为优选，所述罩壳与测试仪本体转动配合是指罩壳通过销轴安 装在测试仪本体的上表面。

作为优选，所述罩壳与测试仪本体转动配合是指所述测试仪本体 上设有凹槽，所述罩壳设在凹槽内也通过销轴转动配合。

作为优选，电机的转轴与罩壳相连是指所述电机的转轴与销轴固 定连接。

作为优选，还包括电控报警系统，所述电控报警系统包括光敏传 感器、控制器和蜂鸣器，所述控制器和蜂鸣器均安装在测试仪本体上， 所述光敏传感器安装在操作平台内，所述光敏传感器、控制器和蜂鸣 器依次电连接。

作为优选，所述罩壳与销轴之间为可拆式连接。

作为优选，所述罩壳为圆形或扇形。

从以上描述可以看出，本实用新型具备以下优点：通过电机控制 罩壳在测试仪本体上进行转动，从而使得当整个罩壳将操作平台笼罩 后，操作平台内再对半导体器件进行通断电和测试各项性能参数的操 作，同时这样的设计不仅无需人工干预，可以全部自动化进行，同时 采用电控报警系统为操作平台内的光线进行监控，只有当操作平台内 的光线完全保持黑暗时，蜂鸣器未报警时，才可以进行测试活动；这 样的设计进一步的保证了半导体器件在测试时不会出现因为光照原 因产生的误差，大大的提高了测试的稳定性。

附图说明

图1是本实用新型的实施例一的半导体器件测试仪的结构示意图。

图2是本实用新型的实施例一的半导体器件测试仪的剖示图。

图3是本实用新型的实施例二的半导体器件测试仪的结构示意图。

图4是本实用新型的实施例二的半导体器件测试仪的剖示图。

附图说明：1、测试仪本体，2、操作平台，3、罩壳，4、电机，5、 销轴，6、凹槽，7、电控报警系统，7.1、光敏传感器，7.2、控制器， 7.3、蜂鸣器。

具体实施方式

实施例一