[发明专利]一种数控磨床测量尺校准装置在审
申请号: | 201611260324.4 | 申请日: | 2016-12-30 |
公开(公告)号: | CN108262689A | 公开(公告)日: | 2018-07-10 |
发明(设计)人: | 黄世强 | 申请(专利权)人: | 天津万祥恒通道桥工程有限公司 |
主分类号: | B24B49/00 | 分类号: | B24B49/00 |
代理公司: | 天津合志慧知识产权代理事务所(普通合伙) 12219 | 代理人: | 宋西磊 |
地址: | 300000 天津*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 固定支架 测量仪 测量尺 探测轴 压紧 数据显示屏 安装底座 标准测量 数控磨床 校准装置 工作效率 加工产品 距离补偿 安置座 定位轴 连接轴 启停键 输出端 中心端 安插 校准 侧端 底端 支架 测量 劳动 | ||
本发明公开了一种数控磨床测量尺校准装置,其结构包括测量仪、压紧探测轴、固定支架、安装底座、安插支架、标准测量棒、测量尺、定位轴、距离补偿架和安置座,所述固定支架底端固定装设在安装底座上,所述固定支架侧端上设有测量仪,所述测量仪上设有数据显示屏和程序启停键,所述数据显示屏装设在测量仪的中心端上,所述测量仪输出端通过连接轴与压紧探测轴相连接,所述测量仪通过压紧探测轴与所述固定支架相连接,所述固定支架内部设有标准测量棒,本发明结构简单便于操作,能够稳定精确的进行测量尺的校准,大大降低了操作者的劳动力度,提高加工产品的质量和工作效率。
技术领域
本发明是一种数控磨床测量尺校准装置,属于测量尺校准装置领域。
背景技术
磨床能加工硬度较高的材料,如淬硬钢、硬质合金等;也能加工脆性材料,如玻璃、花岗石。磨床能作高精度和表面粗糙度很小的磨削,也能进行高效率的磨削,如强力磨削等。
现有公开技术申请号为:201310378099.4的一种测量仪器的辅助装置,具体是一种外径千分尺校准、内径百分表辅助校准装置。该辅助校准装置包括基板以及设于基板上并列设置的至少两量架;各量架均设有可让外径千分尺的测砧或测微螺杆架设于量架上的至少一个支撑部;设于某一量架的一个支撑部与至少一个设于其它量架的支撑部并排设置,使外径千分尺的测砧与测微螺杆可同时架设两量架上。该辅助校准装置可辅助外径千分尺校准零位,以及内径百分表的校准。现有的测量尺校准程序复杂,产生的误差较大,影响了加工产品的质量,且提高了操作者的劳动力度。
发明内容
针对现有技术存在的不足,本发明目的是提供一种数控磨床测量尺校准装置,以解决现有的测量尺校准程序复杂,产生的误差较大,影响了加工产品的质量,且提高了操作者的劳动力度。
为了实现上述目的,本发明是通过如下的技术方案来实现:一种数控磨床测量尺校准装置,其特征在于:其结构包括测量仪、压紧探测轴、固定支架、安装底座、安插支架、标准测量棒、测量尺、定位轴、距离补偿架和安置座,所述固定支架底端固定装设在安装底座上,所述固定支架侧端上设有测量仪,所述测量仪上设有数据显示屏和程序启停键,所述数据显示屏装设在测量仪的中心端上,所述测量仪输出端通过连接轴与压紧探测轴相连接,所述测量仪通过压紧探测轴与所述固定支架相连接,所述固定支架内部设有标准测量棒,所述标准测量棒由顶杆、旋钮、测量轴、红外线发射块、杆套、测距补偿杆和探测球组成,所述顶杆与测量轴固定连接,所述测量轴穿过固定支架与所述顶杆相连接,所述测量轴底端通过红外线发射块与杆套相连接,所述杆套通过测距补偿杆与探测球相连接,所述固定支架顶端上设有安插支架,所述安插支架由位置调节钮和距离传感器组成,所述安插支架通过距离传感器与所述固定支架相连接,所述安置座装设在安装底座的对称边上,所述安置座上设有测量尺和距离补偿架,所述测量尺与距离补偿架通过定位轴定向垂直相连接,所述定位轴通过紧固件与距离补偿架外缘相连接。
进一步地,所述测量轴通过顶杆与所述压紧探测轴相连接。
进一步地,所述测距补偿杆通过杆套与红外线发射块相连接。
进一步地,所述安插支架上设有距离刻度。
进一步地,所述安装底座侧端上固定设有平稳旋转磁块。
进一步地,所述安置座侧端上设有同轴平稳旋转磁块。
本发明的有益效果:结构简单便于操作,能够稳定精确的进行测量尺的校准,大大降低了操作者的劳动力度,提高加工产品的质量和工作效率。
附图说明
通过阅读参照以下附图对非限制性实施例所作的详细描述,本发明的其它特征、目的和优点将会变得更明显:
图1为本发明一种数控磨床测量尺校准装置的结构示意图;
图2为本发明标准测量棒的结构示意图;
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