[发明专利]包括滤光器的测定装置和一种测定方法在审
申请号: | 201611258951.4 | 申请日: | 2012-08-30 |
公开(公告)号: | CN107064139A | 公开(公告)日: | 2017-08-18 |
发明(设计)人: | N.J.康普贝尔;K.E.莫拉维克;B.J.理查森 | 申请(专利权)人: | 超新星诊断公司 |
主分类号: | G01N21/84 | 分类号: | G01N21/84;G01N33/558 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司72001 | 代理人: | 周学斌,刘春元 |
地址: | 美国马*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 包括 滤光 测定 装置 一种 方法 | ||
1.一种用于使得能够对分析物执行测试的测定装置,所述装置具有用于施加一定数量的所述分析物的施加区、废料区以及用于允许所述分析物从所述施加区到所述废料区的通过的通道,所述测定装置包括至少在被活化时将发射或者修改光并且将结合到所述分析物的一定数量的标记材料,所述通道还包括具有一定数量的捕获材料、位于所述施加区与所述废料区之间的捕获区,所述捕获材料被结合到所述通道并且将结合到沿着所述通道通过的分析物,以使得所述分析物将被结合到所述通道,所述测定装置在其一侧具有第一滤光器以用于允许透射由所述标记材料所发射或者修改的光以及用于阻挡至少一个其它波长范围的光,以便使得所述测定装置能够被从其一侧被照射并且以便由位于所述通道中的所述标记材料发射或者修改的光被从其相对侧被检测。
2.如权利要求1中所述的测定装置,其包括位于其将被照射的侧上的第二滤光器,所述第二滤光器具有与所述第一滤光器的光学透射特性不同的光学透射特性。
3.如权利要求2中所述的测定装置,其中所述第二滤光器将允许透射与所述第一滤光器所透射的光相比具有更短的波长的光。
4.如权利要求3中所述的测定装置,其中所述标记材料是荧光材料或磷光材料或其前体,并且所述第一滤光器将仅允许透射被所述标记材料修改后的光。
5.如权利要求1中所述的测定装置,其中所述第一滤光器将允许透射对应于由不同的标记材料发射或者修改的光的不同波长的光。
6.如权利要求1中所述的测定装置,其包括位于所述通道上的不同位置处的多个不同的滤光器。
7.如权利要求1中所述的测定装置,其包括用于不同分析物的通过的多个通道。
8.如权利要求7中所述的测定装置,其包括用于允许透射由所述标记材料发射或者修改的光的多个不同的滤光器,每个这样的滤光器与不同的通道相关联。
9.如权利要求1中所述的测定装置,其中所述标记材料被保持在标记区中,所述标记区位于所述施加区与所述捕获区之间。
10.如权利要求1中所述的测定装置,其包括位于所述捕获区与所述废料区之间的过程控制区,以使得能实现在所述过程控制区处对所述通道的可视检查,以便确定所述分析物通过的程度。
11.如权利要求1中所述的测定装置,其包括用于使得所述分析物能够沿着所述通道通过而至所述废料区的载体的储存器。
12.如权利要求11中所述的测定装置,其中所述储存器是手动可破裂的。
13.如权利要求12中所述的测定装置,其中所述储存器采用泡囊、泡罩包装或袋囊的形式。
14.如权利要求1中所述的测定装置,其包括用于接收控制样品并且允许所述控制样品通过到所述捕获区的附加的通道。
15.如权利要求1中所述的测定装置,其包括彼此大致平行地从施加区延伸到废料区的多个通道,所述通道包含不同的捕获材料以使得能够对多个不同的分析物执行测试。
16.如权利要求1中所述的测定装置,其被布置用于使得能够对所述分析物执行横向流测试或微流体测试。
17.一种用于执行测定的装置,其包括如权利要求1中所述的测定装置和用于检测来自所述测定装置的输出的读取器,所述读取器包括具有能够接纳所述测定装置的孔口的机身、用于一旦所述测定装置被接纳在所述读取器中就从其一侧照射所述测定装置的光源、用于接收用于所述光源的电源的端子、位于所述机身中相对于所述光源在所述孔口的相对侧以用于检测已被所述测定装置发射的光的光学检测器、以及用于检测由所述光学检测器所检测到的光的光功率的检测器。
18.如权利要求17中所述的装置,其中所述读取器包括用于显示定义由所述光学检测器检测到的光的光功率或者涉及所述测定装置中的材料对光的吸收的数据的显示器。
19.如权利要求17中所述的装置,其中所述读取器包括突起,所述突起在所述测定装置被插入到所述孔口中时将使压力被施加到所述测定装置的一部分。
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