[发明专利]一种聚合物辅助键合的混合型激光器及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201611241390.7 申请日: 2016-12-29
公开(公告)号: CN106785887B 公开(公告)日: 2019-12-03
发明(设计)人: 许兴胜;秦璐;黎星云 申请(专利权)人: 中国科学院半导体研究所
主分类号: H01S5/02 分类号: H01S5/02;H01S5/343
代理公司: 11021 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 任岩<国际申请>=<国际公布>=<进入国
地址: 100083 *** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 聚合物 辅助 混合 激光器 及其 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种聚合物辅助键合的混合型激光器的制备方法,其特征在于,该方法包括:

制备带有透明导电介质的硅基波导微腔结构;

制作III-V族激光器,并对III-V族激光器的衬底进行减薄;

对硅基波导微腔结构上的聚合物进行聚合物软化,增加聚合物的粘度,并将III-V族激光器置于带有透明导电介质的硅基波导微腔结构之上,使二者对准键合;

其中,所述透明导电介质为ITO,所述聚合物采用PVA材料;

所述制备带有透明导电介质的硅基波导微腔结构,具体包括:

步骤101:对SOI片进行处理,使用硫酸双氧水进行清洗,清洗后的硅波导进行光刻,采用离子刻ICP进行刻蚀,形成带有阻挡结构的硅波导组合;

步骤102:刻蚀生成硅波导后对晶片进行清洗,并进行台阶测试,测试后制作透明导电介质,作为和III-V族激光器进行接触的导电介质;

步骤103:旋涂聚合物PVA在硅波导晶片全平面,在均匀旋涂的表面再次旋涂光刻胶进行曝光,光刻胶保护住器件之间的PVA,暴露出硅波导组合区域,经过显影后进行腐蚀处理;

步骤104:将晶片浸泡在水中,利用PVA溶于水,可以被水腐蚀的性质,对被光刻胶选区的晶片进行腐蚀;被光刻胶保护的区域没有接触水溶液,只会发生侧蚀,而没有光刻胶保护的区域直接接触水溶液,在浸泡过程中被水溶液腐蚀去掉,依照曝光形成的图形形成选区覆盖;

步骤105:形成选区后浸泡丙酮去除光刻胶,进行键合前的准备;聚合物PVA不溶于丙酮,而曝光所选择的光刻胶则很容易被丙酮去除;去除光刻胶后,聚合物PVA选区覆盖在没有波导区域,形成带有透明导电介质ITO的硅基波导微腔结构。

2.根据权利要求1所述的聚合物辅助键合的混合型激光器的制备方法,其特征在于,所述步骤102中所述制作透明导电介质,采用MOCVD或磁控溅射方法。

3.根据权利要求1所述的聚合物辅助键合的混合型激光器的制备方法,其特征在于,所述制备带有透明导电介质的硅基波导微腔结构,采用SOI材料,且SOI材料厚度在200nm-2um范围。

4.根据权利要求3所述的聚合物辅助键合的混合型激光器的制备方法,其特征在于,该方法采用微环结构、微盘结构或光子晶体来代替所述硅基波导微腔结构。

5.根据权利要求1所述的聚合物辅助键合的混合型激光器的制备方法,其特征在于,所述制作III-V族激光器,采用N型衬底或P型衬底的III-V族半导体有源材料,该N型衬底或P型衬底的III-V族半导体有源材料为InP基量子阱或量子点材料,或为GaAs基量子阱或量子点材料。

6.根据权利要求1所述的聚合物辅助键合的混合型激光器的制备方法,其特征在于,所述制作III-V族激光器,是制作条形的III-V族激光器,其中条形III-V族激光器制作是采用曝光后进行湿法腐蚀或ICP刻蚀方法。

7.根据权利要求6所述的聚合物辅助键合的混合型激光器的制备方法,其特征在于,所述条形III-V族激光器的波导宽度在500nm-100um之间,高度在200nm-3um之间。

8.根据权利要求1所述的聚合物辅助键合的混合型激光器的制备方法,其特征在于,所述将III-V族激光器置于带有透明导电介质的硅基波导微腔结构之上,使二者对准键合,具体包括:

先在常温下施压,增加键合强度,再升温加热固化聚合物,完成键合。

9.根据权利要求1所述的聚合物辅助键合的混合型激光器的制备方法,其特征在于,所述PVA材料的厚度在10-500um范围。

10.一种聚合物辅助键合的混合型激光器,基于权利要求1至9中任一项所述的方法制备而成,该混合型激光器包括:

带有透明导电介质ITO的硅基波导微腔结构;以及

带有自然解理形成法布里-波罗腔的III-V族激光器;

其中,III-V族激光器位于硅基波导微腔结构之上,二者通过PVA辅助键合材料键合在一起,III-V族激光器的n型衬底接触硅基波导微腔结构上的ITO透明导电层,通过在金属电极和ITO上施加电压使得III-V族激光器实现电学泵浦。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院半导体研究所,未经中国科学院半导体研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201611241390.7/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top