[发明专利]一种光电传感器降噪方法

说明书

本发明公开了一种光电传感器降噪方法，包括：在光电传感器附近的预设位置处设置发光单元，发光单元的出射光覆盖光电传感器感光面。本发明光电传感器降噪方法，应用于APD光电传感器，当APD光电传感器应用在暗背景光条件下时，通过设置的发光单元向APD光电传感器补偿背景光，从而降低APD光电传感器的输出噪声，提升对目标光探测的信噪比。

技术领域

本发明涉及光电探测技术领域，特别是涉及一种光电传感器降噪方法。

背景技术

随着光电传感技术的发展，人们追求对更弱信号的探测。

雪崩光电二极管(Avalanche Photo Diode，APD)通常称为APD光电传感器，是利用PN结在高反向电压下，入射光被PN结吸收形成的光电流会成倍激增，实现对光的探测。因此APD光电传感器探测灵敏度高，也成为当前探测微弱信号的主要手段。

但正基于其工作原理，在非常暗的背景光条件下，APD光电传感器的输出噪声会增大很多；另外，APD光电传感器若在比较亮的环境下使用，在实际应用中为确保提取出淹没在强光下的某窄波光信号，会在光学系统上应用超窄波段与深截止的滤光片，这种情况下也会使APD光电传感器接收的背景光很弱，也会造成与暗背景光相似的情况，导致APD光电传感器的输出噪声增大。

APD光电传感器的这一应用弊端，会影响其对光信号的有效探测，例如在激光制导中对有效激光回波信号的探测、在漆黑夜晚环境下对未知微弱光信号的探测、单光子应用方面等。

发明内容

本发明的目的是提供一种光电传感器降噪方法，可降低在暗背景光条件下APD光电传感器的输出噪声。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：

一种光电传感器降噪方法，包括：

在光电传感器附近的预设位置处设置发光单元，所述发光单元的出射光覆盖所述光电传感器感光面。

可选地，在所述光电传感器附近设置一个所述发光单元或者至少两个所述发光单元，所述发光单元的出射光覆盖所述光电传感器感光面。

可选地，至少两个所述发光单元在所述光电传感器附近均匀分布。

可选地，所述发光单元出射光的波长范围偏离所述光电传感器探测光的波长范围。

可选地，所述发光单元出射光的强度与所述光电传感器的响应度相匹配。

可选地，通过调整所述发光单元的限流电阻阻值，以使所述发光单元出射光的强度与所述光电传感器的响应度相匹配。

可选地，调整所述发光单元的限流电阻阻值，以使所述发光单元出射光的强度与所述光电传感器的响应度匹配的方法包括：

将所述光电传感器与所述发光单元一同放置在暗室中；

改变所述发光单元的限流电阻阻值，同时采用示波器测量所述光电传感器的输出信号，以输出噪声最小时对应的阻值确定为所述发光单元的限流电阻阻值。

可选地，所述发光单元出射光的强度恒定。

可选地，所述发光单元为发光二极管。

可选地，所述发光单元设置在所述光电传感器一侧，所述发光单元的位置高于所述光电传感器感光面。

由上述技术方案可知，本发明所提供的光电传感器降噪方法，应用于APD光电传感器，当APD光电传感器应用在暗背景光条件下时，在光电传感器附近的预设位置处设置发光单元，发光单元的出射光覆盖光电传感器感光面，这样通过发光单元向APD光电传感器补偿背景光，可以降低APD光电传感器的输出噪声，进而提升对目标光探测的信噪比。

附图说明