[发明专利]一种解除函数外部耦合及测试方法

说明书

本发明为一种解除函数外部耦合及测试方法，包括以下步骤：函数分类：分析被测源文件，并对待测函数进行分类；函数耦合：根据函数分类进行耦合，如果待测函数本身是非耦合函数，则进行下一步骤；如果函数存在耦合，则设立外部耦合函数，然后再进行下一步骤；函数测试：利用测试单元工具生成测试用例，并根据函数分类和函数耦合情况进行测试；本方法在函数解耦后间接初始化了外部变量或公共数据，不需要人工添加初始化，单元测试效率得到大幅度提高。

技术领域

本发明涉及嵌入式软件领域，尤其是一种解除函数外部耦合及测试方法。

技术背景

在嵌入式软件领域，单元测试技术已经被广泛应用，在现有软件产品中，存在着大量高外部耦合的函数，即这些函数在函数内部直接调用访问外部变量或者公共数据。

目前，大多数的单元测试工具，在为这些外部耦合函数自动生成单元测试用例时，测试工具只能对函数的形参列表进行初始化并测试，并不能自动初始化函数内部访问到的外部数据，而现有的解决方案是，在工具生成测试用例后，人工在测试用例中添加被测函数使用到的外部变量的初始化，当测试用例有成千上万条时，这个方案效率低下，维护困难。

发明内容

为了解决上述问题，本发明的目的是提供一种解除函数外部耦合及测试方法，本方法在函数解耦后，并对外部数据分析，达到函数低耦合高内聚的效果，提高函数的复用性，降低软件后期维护成本，而且，解耦后的函数通过工具生成单元测试用例，包含了函数形参的各种初始化组合，间接初始化了外部变量或公共数据，不需要人工添加初始化，单元测试效率得到大幅度提高。

本发明的技术方案如下：一种解除函数外部耦合及测试方法，包括以下步骤：

首先，函数分类：分析被测源文件，并对待测函数进行分类；

然后，函数耦合：根据函数分类进行耦合，如果待测函数本身是非耦合函数，则进行下一步骤；如果函数存在耦合，则设立外部耦合函数，然后再进行下一步骤；

最后，函数测试：利用测试单元工具生成测试用例，并根据函数分类和函数耦合情况进行测试。

进一步的，所述函数耦合的待测函数存在外部数据变量，通过外部数据变量对待测函数进行解耦封装，并把外部数据以形式参数的方式引入设立的外部耦合函数。

进一步的，所述外部耦合函数的形参列表通过测试单元直接自动生成。

采用以上技术方案的有益效果是：本方法在函数解耦后，并对外部数据分析，达到函数低耦合高内聚的效果，提高函数的复用性，降低软件后期维护成本，而且，解耦后的函数通过工具生成单元测试用例，包含了函数形参的各种初始化组合，间接初始化了外部变量或公共数据，不需要人工添加初始化，单元测试效率得到大幅度提高。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本申请的进一步理解，构成本申请的一部分，本申请的示意性实施例及其说明用于解释本申请，并不构成本申请的不当限定。在附图中：

图1为本发明的整体流程图；

图2为本发明的一个举例的流程图。

图中的数字或字母代表的相应部件的名称：S100. 函数分类，S200. 函数耦合，S300. 函数测试。

具体实施例

如附图1所示，一种解除函数外部耦合及测试方法，为了省略在测试函数时，需要人工在测试用例中初始化外部数据变量的步骤，提供以下解除函数外部耦合的步骤：

首先，函数分类S100：分析被测源文件，并对待测函数进行分类；