[发明专利]一种寄存器传输级N模冗余验证方法在审
申请号: | 201611187712.4 | 申请日: | 2016-12-20 |
公开(公告)号: | CN106802848A | 公开(公告)日: | 2017-06-06 |
发明(设计)人: | 冯志华;沈炜;闫帅;陈丽容;王志昊;王纪;李东方;朱秋岩;王宏;孟超;胡亚云;叶东升;张建伟;慕德俊 | 申请(专利权)人: | 北京计算机技术及应用研究所 |
主分类号: | G06F11/26 | 分类号: | G06F11/26 |
代理公司: | 中国兵器工业集团公司专利中心11011 | 代理人: | 张然 |
地址: | 100854*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 寄存器 传输 冗余 验证 方法 | ||
本发明公开了一种寄存器传输级N模冗余设计的半自动化验证方法,包括:对n模冗余的待验证平台的寄存器的输出进行检查;接收待验证平台的寄存器1‑n的输出值,判断寄存器1‑n的输出值是否相等,如相等则此步验证通过;定义二进制数值data;每个系统时钟给data的最低位加1,将data的n位的每一位分别赋给寄存器1‑n,待验证平台根据每个系统时钟的上升沿的寄存器1‑n的值,在每个系统时钟的下降沿,输出投票输出结果;在每个系统时钟,计算所有寄存器值为1和0的寄存器的数量,如寄存器值为1的寄存器较多,则a=1,如寄存器值为0的寄存器较多,则令a=0;检查待验证平台的投票输出结果是否等于a,数量最多的取值,如等于,则本步验证通过。
技术领域
本发明涉及集成电路验证领域,特别是涉及一种对寄存器传输级N模冗余的验证方法。
背景技术
在一些电磁、辐射环境比较恶劣的情况下,集成电路常常会受到干扰,例如宇宙中单个高能粒子射入半导体器件敏感区,使器件逻辑状态发生反转:原来储存“0”变成“1”,或者“1”变成“0”,从而导致系统功能紊乱。为了让集成电路可以在恶劣的环境下正常工作,如航天、卫星等领域,带有容错机制的抗辐噪设计得到了广泛的应用。目前广泛采取的容错方法是N模冗余,将N个模块同时执行相同的操作,以多数相同的输出作为投票系统的输出,可以提高系统输出的可信性。
目前对N模冗余的验证方法有实物验证和传统仿真验证两种方法:
实物验证
实物验证是将待测设计放入模拟的电磁、辐射比较恶劣的环境进行验证。实物验证存在以下缺点:验证成本过高;故障注入不可控。
传统仿真验证
传统仿真验证是通过对N模冗余设计进行功能仿真,采取故障注入的方式验证容错机制的正确性。传统仿真验证存在以下缺点:需要验证人员手动翻转待测N模冗余的寄存器实现故障注入,当寄存器数量庞大时,工作量非常大,而且不一定能覆盖所有情况,自动化水平不高;结果分析需要验证人员通过观察波形得出,可观测性差。
发明内容
本发明的目的在于提供一种基于插件架构的主机监控系统,用于解决上述现有技术的问题。
本发明一种寄存器传输级N模冗余设计的半自动化验证方法,其中,包括:将测试激励输入待验证平台;对n模冗余的待验证平台的寄存器的输出进行检查;接收待验证平台的寄存器1-n的输出值,判断寄存器1-n的输出值是否相等,如相等则此步验证通过;定义二进制数值data,位宽为n;每个系统时钟给data的最低位加1,将data的n位的每一位分别赋给寄存器1-n,待验证平台根据每个系统时钟的上升沿的寄存器1-n的值,在每个系统时钟的下降沿,输出投票输出结果;在每个系统时钟,计算所有寄存器值为1和0的寄存器的数量,如寄存器值为1的寄存器较多,则a=1,如寄存器值为0的寄存器较多,则令a=0;检查待验证平台的投票输出结果是否等于a,数量最多的取值,如等于,则本步验证通过;如上述验证均通过,则认为待验证平台测试通过。
根据本发明的寄存器传输级N模冗余设计的半自动化验证方法的一实施例,其中,对于三模冗余的输出,n的数值为3。
根据本发明的寄存器传输级N模冗余设计的半自动化验证方法的一实施例,其中,每个系统时钟的上升沿给data的最低位加1。
根据本发明的寄存器传输级N模冗余设计的半自动化验证方法的一实施例,其中,在每个系统时钟的下降沿,计算所有寄存器值为1和0的寄存器的数量。
根据本发明的寄存器传输级N模冗余设计的半自动化验证方法的一实施例,其中,对data进行2的n次方种取值测试。
根据本发明的寄存器传输级N模冗余设计的半自动化验证方法的一实施例,其中,获取n模冗余的模块位置、寄存器名称以及测试激励名称。
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