[发明专利]盐水层泄压方法有效
申请号: | 201611176753.3 | 申请日: | 2016-12-19 |
公开(公告)号: | CN108204223B | 公开(公告)日: | 2020-03-10 |
发明(设计)人: | 王延民;胥志雄;周健;孙爱生;李卫东;黄海涛;徐国何;吴鹏程 | 申请(专利权)人: | 中国石油天然气股份有限公司 |
主分类号: | E21B41/00 | 分类号: | E21B41/00;E21B21/00 |
代理公司: | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人: | 刘丹;黄健 |
地址: | 100007 北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 盐水 层泄压 方法 | ||
1.一种盐水层泄压方法,其特征在于,包括:
钻井液溢流时进行关井,并确定所述钻井液溢流开始的预设时间段内的盐水侵入容量限值;
开井后,通过调整回压调节所述钻井液的排量,并降低所述钻井液的密度,使得在所述预设时间段内的控制盐水侵入量小于或等于所述盐水侵入容量限值;
还包括:确定所述钻井液溢流时的初始地层压力;
其中,所述确定所述钻井液溢流开始的预设时间段内的盐水侵入容量限值,包括:
确定所述预设时间段内,井口装备对盐水侵入的容量限;
确定所述预设时间段内,钻井液对盐水污染的容量限;
确定所述预设时间段内,盐水结晶对盐水污染的容量限;
将所述井口装备对盐水侵入的容量限、所述钻井液对盐水污染的容量限、和盐水结晶对盐水污染的容量限中的最小容量限,确定为所述预设时间段内的盐水侵入容量限值;
确定所述预设时间段内,井口装备对盐水侵入的容量限,包括:
采用公式2,得到所述井口装备对盐水侵入的容量限;
其中,Vmax1为所述井口装备对盐水侵入的容量限;PT为套管的抗内压强度;PF为井口防喷器抗内压强度;ρmud为所述钻井液的密度;H为盐水层的深度;ρs为所述盐水层的盐水密度;V为单位长度环空的容积;PR为所述初始地层压力;g为重力加速度;
所述确定所述预设时间段内,钻井液对盐水污染的容量限,包括:
采用公式3,得到所述钻井液对盐水污染的容量限;
Vmax2=H*V*C1 公式3;
其中,Vmax2为所述钻井液对盐水污染的容量限;H为盐水层的深度;V为单位长度环空的容积;C1为盐水污染所述钻井液的最大体积分数;
所述确定所述预设时间段内,盐水结晶对盐水污染的容量限包括:
采用公式4,得到所述盐水结晶对盐水污染的容量限;
其中,Vmax3为所述盐水结晶对盐水污染的容量限;H为盐水层的深度;V为单位长度环空的容积;C2为井口的所述钻井液的盐水饱和度;C3为所述盐水层盐的含量。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述确定钻井液溢流时的初始地层压力,包括:
在所述钻井液溢流时进行关井,并确定所述关井后钻柱内的液柱压力,和所述关井后的立管压力;
采用公式1,确定所述初始地层压力;
PR=Pd+Pmud 公式1;
其中,PR为所述初始地层压力,Pd为所述关井后的立管压力,Pmud为所述关井后钻柱内的液柱压力。
3.根据权利要求1-2中任一项所述的方法,其特征在于,所述通过调整回压调节所述钻井液的排量包括:
若盐水侵入量小于所述盐水侵入容量限值,通过减小回压增加所述钻井液的排量;
若盐水侵入量大于所述盐水侵入容量限值,通过增加回压减小所述钻井液的排量。
4.根据权利要求1-2中任一项所述的方法,其特征在于,所述降低所述钻井液的密度,包括:
每次以预设降幅,降低所述钻井液的密度。
5.根据权利要求1-2中任一项所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
当进出口的所述钻井液的性能参数的差值在预设范围内,进行关井,并确定折算地层压力;
确定所述折算地层压力是否小于所述初始地层压力;
若所述折算地层压力小于所述初始地层压力,确定所述折算地层压力是否小于或等于预设的地层压力;
若所述折算地层压力大于所述预设的地层压力,继续通过调整回压调节所述钻井液的排量,并降低所述钻井液的密度,直至所述折算地层压力降低至小于或等于所述预设的地层压力。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国石油天然气股份有限公司,未经中国石油天然气股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201611176753.3/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种注水井保温房温控装置及方法
- 下一篇:一种无套压充填工具