[发明专利]一种二维扫描测距装置

权利要求书

1.一种二维扫描测距装置，由激光器、MEMS扫描振镜、线阵CMOS、透镜、滤光片按照一定角度及距离安装，其特征在于：激光器发射光束，其光束运动路径形成扇形区域，照射扇形区域内的被测物体，被测物体反射光束作用在线阵CMOS上形成光斑，再根据光斑的位置计算被测物体的距离。

2.根据权利要求1所述的一种二维扫描测距装置，其特征在于：激光光束运动路径形成扇形区域的步骤为：激光光束照射的MEMS扫描振镜中心，由MEMS扫描振镜的扫描动作使反射光束路径形成扇形区域。

3.根据权利要求1所述的一种二维扫描测距装置，其特点特征在于：被测物体反射光束作用在线阵CMOS上形成光斑的步骤包括：反射经透镜汇聚作用及滤光片的去噪后在线阵CMOS表面形成光斑。

4.根据权利要求2所述的一种二维扫描测距装置，其特征在于：激光器发射光束、准直部件与光轴与振镜的中心同轴安装。

5.根据权利要求3所述的一种二维扫描测距装置，其特征在于：透镜、滤光片与线阵CMOS同轴且平行安装。