[发明专利]一种参考环校准方法及装置

说明书

本发明提供一种参考环校准方法及装置，通过计算得到每个参考环组中的参考环间的衰减差值；利用衰减差值计算得到参考环的误差值；利用设定的参考环的位置偏移量和计算得到的参考环的误差值，计算得到每一个参考环组的位置补偿值；利用每一个参考环组的位置补偿值和每一个参考环组中的参考环间的衰减差值，计算得到每一个参考环组中的参考环间的补偿衰减差值；利用补偿衰减差值计算得到当前参考环的补偿误差值；利用所述当前参考环的补偿误差值，计算所述当前参考环的修正参数。将参考环制作时造成的参考环的几何中心与电气中心的偏移量补偿到参考环校准过程中，提高了参考环的校准精度。

技术领域

本发明属于参考环技术领域，尤其涉及一种参考环校准方法及装置。

背景技术

现有技术中，将参考环作为应答器测试中的参考天线，在射频能量和上行链路这两个频点进行测试。由于参考环制作的材料、工艺等客观原因，制作的参考环与理论公式计算的参考环存在一定的误差，进而导致利用上述参考环作为参考天线对应答器进行测试时，会对应答器的测试结果产生影响。

因此，参考环在实际使用中有校准的需求，以期通过校准来减小这个误差，以提高应答器测试结果的精度。

在传统的校准方法中，通常是使用一个比被测物精度更高的校准件来对被测物进行校准。但是，参考环只是一个铁路专用产品的参考件，并不存在一个公认的可以作为最高精度的标准参考环，因此，并不能采用标准参考环对制作的参考环进行校准。

目前通常的做法是，使用未校准的参考环测量时，进行多次测量，再对测量结果进行平均。但是这样做只能减小人为误差，无法减小系统误差。即并不能消除参考环本身的误差，对应答器测试结果的影响。

发明内容

有鉴于此，本发明的目的在于提供一种参考环校准方法，用于实现对参考环的校准，减小对应答器测试结果的影响。

技术方案如下：

本发明提供一种参考环校准方法，所述方法包括：

选取N个参考环，其中，N≥3；

分别计算得到每个参考环组中的参考环间的衰减差值；其中，所述参考环组由N个参考环中任意两个参考环组成；

利用组成参考环组的两个参考环中包含当前参考环的参考环组中的参考环间的衰减差值、和组成参考环组的两个参考环中不包含当前参考环的参考环组中的参考环间的衰减差值，计算得到当前参考环的误差值；其中，所述当前参考环为所述N个参考环中任意一个；

利用设定的每一个参考环组中的两个参考环的位置偏移量和计算得到的每一个参考环组中的两个参考环的误差值，计算得到每一个参考环组的位置补偿值；利用所述每一个参考环组的位置补偿值和每一个参考环组中的参考环间的衰减差值，计算得到每一个参考环组中的参考环间的补偿衰减差值；

利用组成参考环组的两个参考环中包含当前参考环的参考环组中的参考环间的补偿衰减差值、和组成参考环组的两个参考环中不包含当前参考环的参考环组中的参考环间的补偿衰减差值，计算得到当前参考环的补偿误差值；

利用所述当前参考环的补偿误差值，计算所述当前参考环的修正参数；

依据所述当前参考环的修正参数对所述当前参考环进行校准。

优选地，所述利用所述当前参考环的补偿误差值，计算所述当前参考环的修正参数包括：

判断当前参考环的补偿误差值是否满足第一预定条件；当不满足第一预定条件，则在第一预定范围内选择不同于上次的位置偏移量，对任意参考环的位置偏移量进行调整，得到调整后的位置偏移量，将调整后的位置偏移量作为设定的每一个参考环组中的两个参考环的位置偏移量；