[发明专利]双内圈双列角接触球轴承的内圈组配凸出量检测方法在审

专利信息
申请号: 201611161698.0 申请日: 2016-12-15
公开(公告)号: CN106595427A 公开(公告)日: 2017-04-26
发明(设计)人: 张萍;纪春华;毕明龙;闫国斌;张振宇;张磊;焦岩;孙慧霖;孙东 申请(专利权)人: 中航工业哈尔滨轴承有限公司
主分类号: G01B5/02 分类号: G01B5/02
代理公司: 哈尔滨市松花江专利商标事务所23109 代理人: 牟永林
地址: 150025 黑龙*** 国省代码: 黑龙江;23
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摘要:
搜索关键词: 内圈 双列角 接触 球轴承 凸出 检测 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种轴承检测方法,具体涉及一种双内圈双列角接触球轴承的内圈组配凸出量检测方法。

背景技术

双内圈双列角接触球轴承与组配角接触球轴承结构形式不同,双内圈双列角接触球轴承的主要特点是双列轴承的外圈为整体一个结构,内圈为分离的两个内圈构成,且轴承组装合套后不可拆卸的整体结构,该类型轴承是通过在装配过程中通过测量凸出量值间接保证合套后轴向游隙值,因此,需要一种在轴承合套前进行内圈组配凸出量测量方法,以达到用凸出量值间接保证轴向游隙的要求。

综上,目前双内圈双列角接触球轴承轴向游隙合格率低和零件废品率高。

发明内容

本发明为解决目前双内圈双列角接触球轴承存在轴向游隙合格率低和零件废品率高的问题,进而提供一种双内圈双列角接触球轴承的内圈组配凸出量检测方法。

本发明为解决上述技术问题采取的技术方案是:

本发明的双内圈双列角接触球轴承的内圈组配凸出量检测方法步骤如下:

步骤一、在轴承完成合套前,选取一套完成径向游隙组配的双内圈双列角接触球轴承,测量外圈宽度值C;

步骤二、选取步骤一中轴承的一个内圈3进行标记,将该标记的内圈3与相应一列外圈及保持架4进行组配后放置在轴承测量仪8上;

步骤三、内圈组配凸出量:δ=δ1+δ2-C (1)

其中δ为内圈组配凸出量,δ1为第一间接测量量,δ2为第二间接测量量,C为外圈宽度值;

步骤四、将高度块6放置在步骤二中标记的内圈3上,将测量仪表7放在高度块6的上端面上,在轴承测量仪8上施加测量负荷,读取第一直接测量量δ3的值,求得

δ1=H-δ3(2)

步骤五、取两个内圈中余下的内圈5与外圈1另一列及保持架4进行组配,然后放置在轴承测量仪8上;

步骤六、将高度块6放置在步骤五中的内圈5上,将测量仪表7放在高度块6的上端面上,在轴承测量仪8上施加测量负荷,读取第二直接测量量δ4的值,求得

δ2=H-δ4(3)

步骤七、将δ1=H-δ3;δ2=H-δ4代入公式(1)中,得到

δ=2H-C-δ3-δ4 (4)

从而得到内圈组配凸出量。

本发明与现有技术相比具有以下有益效果:

本发明的双内圈双列角接触球轴承内圈组配凸出量测量方法是在轴承装配前进行凸出量测量,如不满足凸出量测量值要求可进行修磨内圈,再重新测量,达到要求后再进行合套工作,这样可以避免合套后测量轴向游隙不合格,需破坏轴承内圈和滚动体再重新合套测量,降低零件废品率,提高轴承合套率;

本发明的双内圈双列角接触球轴承内圈组配凸出量测量方法能满足不可拆卸整体结构双内圈双列角接触球轴承的凸出量测量,间接保证轴向游隙,提高了轴承合套后轴向游隙合格率,无需破坏成品轴承内圈和滚动体再重新选配零件合套。

附图说明

图1是本发明的双内圈双列角接触球轴承的的主剖视图;

图2是具体实施方式一步骤四中第一直接测量量δ3的测量过程示意图;

图3是具体实施方式一步骤六中第二直接测量量δ4的测量过程示意图。

其中:1为轴承外圈,2为钢球,3为标记内圈,4为保持架,5为两个内圈中余下的内圈,6为高度块,7为测量仪表,8为轴承测量仪。

具体实施方式

具体实施方式一:如图1~3所示,本实施方式的双内圈双列角接触球轴承的内圈组配凸出量检测方法步骤如下:

步骤一、在轴承完成合套前,选取一套完成径向游隙组配的双内圈双列角接触球轴承,测量外圈宽度值C;

步骤二、选取步骤一中轴承的一个内圈3进行标记,将该标记的内圈3与相应一列外圈及保持架4进行组配后放置在轴承测量仪8上;

步骤三、内圈组配凸出量:δ=δ1+δ2-C (1)

其中δ为内圈组配凸出量,δ1为第一间接测量量,δ2为第二间接测量量,C为外圈宽度值;

步骤四、将高度块6放置在步骤二中标记的内圈3上,将测量仪表7放在高度块6的上端面上,在轴承测量仪8上施加测量负荷,读取第一直接测量量δ3的值,求得

δ1=H-δ3 (2)

步骤五、取两个内圈中余下的内圈5与外圈1另一列及保持架4进行组配,然后放置在轴承测量仪8上;

步骤六、将高度块6放置在步骤五中的内圈5上,将测量仪表7放在高度块6的上端面上,在轴承测量仪8上施加测量负荷,读取第二直接测量量δ4的值,求得

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