[发明专利]多基色色域覆盖率的测量方法及装置有效

专利信息
申请号: 201611161481.X 申请日: 2016-12-15
公开(公告)号: CN106604025B 公开(公告)日: 2018-07-10
发明(设计)人: 黄早珊 申请(专利权)人: 广东威创视讯科技股份有限公司
主分类号: H04N17/00 分类号: H04N17/00;H04N17/02
代理公司: 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人: 刘艳丽
地址: 510670 广东省广州*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 随机点 色域 基色坐标 显示设备 测量方法及装置 基色 产生位置 封闭区域 检测 可靠性和实用性 覆盖率 数值测量 域覆盖率 参考 色域图 多基 预设
【权利要求书】:

1.一种多基色NTSC色域覆盖率的测量方法,其特征在于,包括以下步骤:

获取参照色域的参考基色坐标;

获取显示设备色域的对照基色坐标;

在所述参照色域以及显示设备色域所在的色域图上产生若干随机点并检测所述随机点的产生位置;

若所述随机点的产生位置处于参照色域的参考基色坐标构成的封闭区域内,则增加随机点在参照色域出现的第一计数值;

若所述随机点的产生位置同时处于显示设备色域的对照基色坐标构成的封闭区域内,则增加随机点在显示设备色域出现的第二计数值;

根据所述第一计数值以及第二计数值测量多基色NTSC色域覆盖率,其中,所述多基色NTSC色域覆盖率等于所述第二计数值除以第一计数值。

2.根据权利要求1所述的多基色NTSC色域覆盖率的测量方法,其特征在于,增加所述第一计数值之前,包括以下步骤:

测量所述参考基色坐标构成的三角形的面积SNTSC

遍历参照色域的参考基色坐标构成的三角形的任意两个顶点的参考基色坐标,测量所述随机点与任意所述两个相邻顶点构成的参考色域三角形的面积和SNTSCsum

若SNTSC和SNTSCsum相等,则增加所述第一计数值。

3.根据权利要求2所述的多基色NTSC色域覆盖率的测量方法,其特征在于,增加所述第二计数值之前,包括以下步骤:

测量所述对照基色坐标构成的多边形的面积Spoly

遍历显示设备色域的对照基色坐标构成的多边形的任意两个顶点的对照基色坐标,测量所述随机点与任意所述两个相邻顶点构成的对照色域三角形的面积和Spolysum

若Spoly和Spolysum相等,且SNTSC和SNTSCsum相等,则增加所述第二计数值。

4.根据权利要求3所述的多基色NTSC色域覆盖率的测量方法,其特征在于,

所述显示设备色域为三基色显示设备色域以上显示设备色域;

根据显示设备色域的对照基色坐标构成的多边形为三角形以上的封闭多边形。

5.根据权利要求3所述的多基色NTSC色域覆盖率的测量方法,其特征在于,获取显示设备色域的对照基色坐标,并测量所述对照基色坐标构成的多边形面积Spoly时,包括以下步骤:

获取显示设备色域的对照基色坐标构成的多边形的各顶点坐标,按照多边形顶点顺序分别记为C1(x1,y1),C2(x2,y2)…Cn(xn,yn),Cn+1(xn+1,yn+1);其中,C1为所述多边形的第一个顶点,x1和y1分别为第一个顶点的横坐标和纵坐标;C2为所述多边形的第二个顶点,x2和y2为分别第二个顶点的横坐标和纵坐标;Cn+1为所述多边形的第n+1个顶点,xn+1和yn+1为分别第n+1个顶点的横坐标和纵坐标;

根据所述多边形的各顶点横坐标及纵坐标,按照以下方式测量显示设备色域的对照基色坐标构成的多边形面积:

其中,Spoly为显示设备色域的对照基色坐标构成的多边形面积,xi和yi为分别为第i个顶点的横坐标和纵坐标,xi+1和yi+1分别为第i+1个顶点的横坐标和纵坐标。

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