[发明专利]一种DMA自测试电路

说明书

本发明提供了一种对FC‑AE‑ASM协议处理芯片主机接口功能以及FC协议处理功能进行隔离测试的DMA自测试电路。DMA自测试电路包括自测试寄存器控制、主机DMA接口读写测试以及发送接收DMA测试以及信息交互区。其中主机DMA接口读写测试电路与主机DMA接口连接，发送接收DMA测试与发送接口通道电路连接。本发明可以对FC‑AE‑ASM芯片FC帧的收发功能以及主机接口DMA功能进行相对独立的隔离测试。

技术领域

本发明涉及一种检测电路，特别涉及一种DMA自测试电路。

背景技术

自测试电路大量的运用于芯片设计中，通过自测试电路功能可以在不需要芯片外围电路的情况下，完成对芯片一些基本功能的测试。通过自测试可以判断芯片基本功能的是否正常。对于一些功能复杂的芯片如果出现自测试失败，通常不能对芯片故障定位。

发明内容

本发明的目的：提供一种能够实现故障定位的DMA自测试电路。

本发明的技术方案：一种DMA自测试电路，所述的测试电路检测DMA通道功能，其特征为：自测试电路通过试发送数据的方式验证每条DMA通道功能是否正常。

优选地，所述的自测试电路包括信息交换区和主机读BIST控制模块，主机读BIST控制模块向PCIe发送DMA接口发起DMA读请求，待主机接口响应后，信息交换区接收来自主机接口的数据并存储，主机根据信息交换区是否存储有DMA测试数据判断该DMA通道功能是否正常。

优选地，所述的自测试电路包括信息交换区和主机写BIST控制模块，主机写BIST控制模块向PCIe接收DMA接口发起DMA写请求，待主机接口响应后，主机主存接收来自信息交换区的测试数据，主机根据相应主存地址空间中是否存有DMA测试数据判断该DMA通道功能是否正常。

优选地，所述的自测试电路包括信息交换区和发送BIST控制模块，发送BIST控制模块将信息交换区中的测试数据通过FC发送通道发送，通过FC分析仪记录测试数据，根据FC分析仪是否接收到测试数据判断该DMA通道功能是否正常。

优选地，所述的自测试电路包括信息交换区和接收BIST控制模块，接收BIST控制模块将FC接收通道的数据存储到信息交换区，根据信息交换区是否接收到测试数据判断该DMA通道功能是否正常。

优选地，所述的信息交换区分为两个地址空间，从主机获取的数据与发送至FC通道的数据共用同一地址空间；从FC通道获取的数据与发送至主机的数据共用同一地址空间。

本发明的有益效果：根据配置的模式自测试电路向每条DMA通道试发送数据以验证该通道功能是否正常。该技术方案可以完成主机读写测试以及发送接收测试隔离测试，一旦芯片出现故障同时不好定位故障时可以通过这几种测试模式来定位故障到底出现在发送通道、接收通道或者主机接口中。

附图说明

图1为DMA自测试电路结构。

具体实施方式

请参阅图1，处理器通过寄存器接口配置BIST寄存器控制模块中的模式寄存器，可以配置为正常模式、发送BIST(自测试)模式、接收BIST模式、主机读BIST模式以及主机写BIST模式，同时可以配置测试长度(小于4K)寄存器以及测试地址寄存器以及自测试使能寄存器，其中测试长度寄存器用于除过接收BIST模式的其他所有BIST模式，测试地址寄存器指的是主存中的地址，用于主机读写BIST模式，自测试使能信号为脉冲信号，用于除过接收BIST模式的其他所有BIST模式。

正常模式下，自测试电路不工作。主机(PCIe)发送DMA接口直接和发送DMA通道相连接，主机(PCIe)接收DMA接口直接和接收DMA通道相连接。