[发明专利]一种交流电压检测装置及方法

权利要求书

1.一种交流电压检测装置，其特征在于，所述交流电压检测装置包括：电源输入模块、光耦检测模块及控制模块；

所述电源输入模块，连接所述光耦检测模块，用于将被测交流电源接入所述光耦检测模块；

所述光耦检测模块，连接所述控制模块，用于基于所述被测交流电源控制光耦的导通或关断，并在所述光耦导通时将高电平或低电平接入所述控制模块；

所述控制模块，用于根据接收到的所述高电平或低电平，确定所述光耦在多个周期内的导通时间，并获得所述被测交流电源的电压值；

其中，所述控制模块，具体用于：

获取所述光耦检测模块发送的若干个周期内高电平或低电平的持续时间，并获得所述若干个周期内高电平或低电平的持续时间的加权平均值t；

根据公式一计算得到所述被测交流电源的电压峰峰值Vcc：

Vcc＝V1/sinω(π-t) 公式一

其中，V1为光耦导通电压，ω为频率且ω＝2π/T，T为所述周期。

2.根据权利要求1所述的交流电压检测装置，其特征在于，所述光耦检测模块，包括：第一二极管、第一电阻、第二电阻及光耦；所述电源输入模块包括第一电源输入端和第二电源输入端；

所述第一二极管的阳极与所述第一电源输入端连接，所述第一二极管的阴极与所述第一电阻的第一端连接；

所述第一电阻的第二端与所述光耦的第一输入端连接；所述第二电阻并联在所述光耦的第一输入端与第二输入端之间；

所述光耦的第二输入端与所述第二电源输入端连接，所述光耦的第一输出端与高电平连接，所述光耦的第二输出端与所述光耦检测模块的输出端连接。

3.根据权利要求2所述的交流电压检测装置，其特征在于，所述光耦检测模块还包括：第二二极管；

所述第二二极管的阴极与所述光耦的第一输入端连接，所述第二二极管的阳极与所述光耦的第二输入端连接。

4.根据权利要求2所述的交流电压检测装置，其特征在于，所述光耦检测模块还包括：滤波单元；

所述滤波单元与所述光耦的第二输出端连接，用于对所述光耦检测模块输出的信号进行滤波。

5.根据权利要求4所述的交流电压检测装置，其特征在于，所述滤波单元包括：第三电阻、第四电阻及第一电容；

所述第三电阻的第一端与所述光耦的第二输出端连接，所述第三电阻的第二端与地连接；

所述第一电容的第一端与所述光耦的第二输出端连接，所述第一电容的第二端与地连接；

所述第四电阻的第一端与所述光耦的第二输出端连接，所述第四电阻的第二端与所述控制模块连接。

6.根据权利要求1-5中任一项所述的交流电压检测装置，其特征在于，所述控制模块为微处理器MCU。

7.一种交流电压检测方法，其特征在于，所述方法包括：

通过被测交流电源控制光耦的导通或关断，以生成包括高电平或低电平的光耦检测信号；

根据所述光耦检测信号，确定所述光耦在多个周期内的导通时间，并获得所述被测交流电源的电压值；

其中，所述根据所述光耦检测信号，确定所述光耦在多个周期内的导通时间，并获得所述被测交流电源的电压值，包括：

根据所述光耦检测信号获取若干个周期内高电平或低电平的持续时间，并获得所述若干个周期内高电平或低电平的持续时间的加权平均值t；

根据公式一计算得到所述被测交流电源的电压峰峰值Vcc：

Vcc＝V1/sinω(π-t) 公式一

其中，V1为光耦导通电压，ω为频率且ω＝2π/T，T为周期。

8.根据权利要求7所述的交流电压检测方法，其特征在于，所述方法还包括：

对所述被测交流电源的电压峰峰值进行显示。