[发明专利]一种按键测试方法及系统在审

专利信息
申请号: 201611138581.0 申请日: 2016-12-12
公开(公告)号: CN106597157A 公开(公告)日: 2017-04-26
发明(设计)人: 王聪 申请(专利权)人: 上海卓易科技股份有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 北京品源专利代理有限公司11332 代理人: 孟金喆,胡彬
地址: 200233 上海市*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 按键 测试 方法 系统
【说明书】:

技术领域

发明实施例涉及按键测试技术领域,尤其涉及一种按键测试方法及系统。

背景技术

移动终端已成为人们日常生活中不可缺少的通讯工具,在使用移动终端时,人们通过移动终端键盘向移动终端内部传递指令,实现相应功能。但随着电子技术的高速发展,移动终端的主板集成度越来越高,规模也越来越小,生产难度越来越大,尤其是针对移动终端主板上键盘又细又长的信号引线,在电子电路表面组装过程中容易出现接触不良情况,严重影响移动终端质量,因此在移动终端进行装机前,厂家必须对移动终端的主板按键情况进行测试。

目前采用的测试方式是将被测移动终端主板固定在装有顶针的测试夹具内,由测试人员手动进入键盘测试界面,该界面显示出被测移动终端主板上的所有按键,测试人员需将所有按键依次按下,进而判断按键的接触情况。该测试系统能够发现接触不良的按键,但是测试人员工作量相对较大,导致测试效率低,测试成本高。同时,由于测试人员在操作过程中的疏忽,存在漏按及错按等现象,使测试结果的准确度及可靠性较低。

发明内容

有鉴于此,本发明实施例提供了一种按键测试方法及系统,以实现对移动终端按键测试的自动化,降低测试成本,提高测试效率及测试结果准确度和可靠性。

第一方面,本发明实施例提供了一种按键测试方法,包括:

接收测试信号,并根据所述测试信号进入测试状态;

根据所述测试信号,控制按键顶针按压待检测按键进行按键测试,并产生检测结果信号;

根据所述检测结果信号判断按键是否正常。

进一步地,所述根据所述测试信号,控制按键顶针按压待检测按键进行按键测试,并产生检测结果信号包括:

根据所述测试信号,控制开关的工作状态,所述开关控制所述按键顶针能否依照设定模式按压所述按键进行按键测试,并产生所述检测结果信号。

进一步地,所述根据所述测试信号,控制开关的工作状态,所述开关控制所述按键顶针能否依照设定模式按压所述按键进行按键测试包括:

当所述测试信号满足预设的导通条件,控制所述开关工作于导通状态以控制所述按键顶针依照设定模式按压所述按键;否则,控制所述开关工作于关断状态,以使所述按键顶针不按压所述按键。

进一步地,所述接收测试信号,并根据所述测试信号进入检测状态包括:

当所述测试信号的起始位满足设定的起始测试条件时,进入测试状态。

进一步地,根据所述检测结果信号判断按键是否正常包括:

当所述测试信号的中间位满足设定的结果获取条件时,则获取所述检测结果信号,并根据所述检测结果信号中的电位状态判断按键是否正常。

进一步地,所述控制按键顶针按压待检测按键进行按键测试之后,还包括:

当所述测试信号的结束位满足设定的结束条件时,结束测试状态。

另一方面,本发明实施例提供了一种按键测试系统,包括:

测试起始模块,用于接收测试信号,并根据所述测试信号进入测试状态;

按键检测模块,用于根据所述测试信号,控制按键顶针按压待检测按键进行按键测试,并产生检测结果信号;

按键判定模块,用于根据所述检测结果信号判断按键是否正常。

进一步地,所述按键检测模块具体用于:

根据所述测试信号,控制开关的工作状态,所述开关控制所述按键顶针能否依照设定模式按压所述按键进行按键测试,并产生所述检测结果信号。

进一步地,所述按键检测模块具体用于:

当所述测试信号满足预设的导通条件,控制所述开关工作于导通状态以控制所述按键顶针依照设定模式按压所述按键;否则,控制所述开关工作于关断状态。

进一步地,所述测试起始模块具体用于:

当所述测试信号的起始位满足设定的起始测试条件时,进入测试状态。

进一步地,所述按键判定模块具体用于:

当所述测试信号的中间位满足设定的结果获取条件时,则获取所述检测结果信号,并根据所述检测结果信号中的电位状态判断按键是否正常。

进一步地,在上述系统的基础上,还包括:

测试结束模块,用于当所述测试信号的结束位满足设定的结束条件时,结束测试状态。

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