[发明专利]紫外线感测层涂布液有效
申请号: | 201611135776.X | 申请日: | 2014-02-25 |
公开(公告)号: | CN107091689B | 公开(公告)日: | 2020-06-05 |
发明(设计)人: | 八田政宏 | 申请(专利权)人: | 富士胶片株式会社 |
主分类号: | G01J1/50 | 分类号: | G01J1/50;G01J1/42 |
代理公司: | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人: | 彭雪瑞;臧建明 |
地址: | 日本东京港区*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 紫外线 感测层涂布液 | ||
本发明涉及一种紫外线感测层涂布液,使用所述紫外线感测层涂布液形成的紫外线感测片的广面积的紫外线照射量的测定简便,且1mJ/cm2~1000mJ/cm2的范围内的紫外线量测定优异。所述紫外线感测层涂布液含有内含光氧化剂及能够利用所述光氧化剂氧化呈色的隐色染料的胶囊,且所述光氧化剂与所述隐色染料的质量比为0.2~1.0:1。
相关分案申请
本申请案是发明名称为“紫外线感测片、其制造方法以及紫外线感测方法”,申请号为 201480009635.6的发明专利国际申请案的分案申请,原申请案的申请日是2014年02日25日。
技术领域
本发明涉及一种用于紫外线感测片的紫外线感测层涂布液。
背景技术
紫外线量的测定被用于各种领域中,例如,关于用以使紫外线硬化树脂硬化的紫外线照射装置中的对被照射物所照射的紫外线量的测定,使用紫外线光量计来进行测定。
紫外线光量计通常已知有利用半导体的光电动势的装置,但其昂贵且搬动也不便。作为价廉且简便的紫外线光量计,已知有使用光致变色(photochromic)材料的卡(card)状的紫外线光量计,其根据紫外线而发生可逆的变色,虽可获知照射中的紫外线强度,但无法获知紫外线的累积照射量。
作为测定累积照射量的方法,例如专利文献1中提出有利用变色材料的方法。
另外,关于紫外线量的测定,已提出有使用感光纸来进行定量的方法(参照专利文献2) 或利用隐色(leuco)染料的氧化呈色的方法(参照专利文献3)。
[现有技术文献]
[专利文献]
[专利文献1]日本专利特开平10-288552号公报
[专利文献2]日本专利特开平10-122958号公报
[专利文献3]日本专利特开昭62-112020号公报
发明内容
发明要解决的课题
然而,专利文献1中有感度不充分而不适于定量的问题。
专利文献2中有以下问题:另需要测定装置而测定繁杂,并无呈色的层次性而无法简便地判断定量性,紫外线量测定后容易受到外光的影响而缺乏测定结果的操作性等。
专利文献3中有以下问题:并无呈色的层次性而无法简便地判断定量性,紫外线量测定后容易受到外光的影响而缺乏测定结果的图像保存性等。
进而,关于使用紫外线硬化的制造工艺中的紫外线照射线量,最广泛使用的是100mJ/cm2~1000mJ/cm2,但上述方法不适于所述紫外线照射线量的合适范围的测定。
本发明是为了解决上述问题而成,本发明在于提供一种广面积内的紫外线照射量的测定简便,且1mJ/cm2~1000mJ/cm2的范围内的紫外线量测定优异的紫外线感测片、其制造方法、以及紫外线感测方法。
解决问题的技术手段
本发明人等人发现,在利用高压水银灯进行照射时,若在波长365nm下测定时的累计照度在1mJ/cm2以上且小于10mJ/cm2的范围内的反射浓度变化ΔD1、在10mJ/cm2以上且小于 100mJ/cm2的范围内的反射浓度变化ΔD2、以及在100mJ/cm2以上且1000mJ/cm2以下的范围内的反射浓度变化ΔD3分别为0.2以上,则可对应于紫外线的累计照度而连续地呈色,从而完成了本发明。
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