[发明专利]集成电路仿真数据相关性建模方法及装置

权利要求书

1.一种集成电路仿真数据相关性建模方法，其特征在于，基于少量集成电路样品的仿真数据，通过相关性聚类和协方差收缩技术刻画由于工艺参数波动导致的性能波动在不同工作条件下的相关性，得到一个相关性模型；利用该模型提出或改进集成电路计算机辅助设计的相关算法，提高电路设计和验证的效率；

所述的不同工作条件包括温度、电源电压和电路负载；

所述的方法其包括步骤：

步骤1，输入仿真数据：根据电路网表和各电路样品的工艺参数，对电路样品进行完整的电路仿真，得到仿真数据；

步骤2，建立原始相关性模型：以步骤1得到的仿真数据中电路样品作为样本、以电路表现作为样本的维度，建立一个原始的多元正态分布；

步骤3，修正相关性模型：针对实际应用中.出现的因维数小于样本数而导致相关性模型可靠性的下降，对原始的相关性模型进行修正，对相关系数矩阵的选择性收缩，包括下述分步骤：

步骤3a，对步骤2中得到的原始模型中相关性维度进行聚类，其中属于同一聚类的维数不得超过给定值；

步骤3b，构造目标相关系数矩阵：根据步骤3a得到的聚类结果，对属于同一聚类的维度，保留其两两之间的相关系数；对分属不同聚类的维度，将其相关系数置为0，由此得到目标相关系数矩阵；

步骤3c，计算最优收缩系数：该收缩系数应使得由此得到的相关系数矩阵的平方误差的期望最小；

步骤3d，根据步骤3b得到的目标相关系数矩阵和步骤3c得到的收缩系数，计算修正后的相关系数矩阵和相应的协方差矩阵；

步骤4，输出相关性模型：该模型为一个多元正态分布，以步骤2得到的均值向量和步骤3d得到的协方差矩阵唯一确定。

2.根据权利要求1所述的集成电路仿真数据相关性建模方法，其特征在于，所述步骤3a中，得到的原始模型中相关性以相关系数的绝对值衡量。

3.根据权利要求1所述的集成电路仿真数据相关性建模方法，其特征在于，将由电路工艺参数波动导致的性能波动在不同工作条件下的相关性用一个多元正态分布进行刻画，其中使用相关性聚类和协方差收缩技术以保证该模型在高维度、小样本情况下的可靠性和准确度。