[发明专利]一种光阻法颗粒计数器中的高灵敏度粒径分析方法在审
| 申请号： | 201611117777.1 | 申请日： | 2016-12-07 |
| 公开（公告）号： | CN108169083A | 公开（公告）日： | 2018-06-15 |
| 发明（设计）人： | 范继来;李晓旭;宋振英;周晓东;王耀祖 | 申请（专利权）人： | 董青云 |
| 主分类号： | G01N15/02 | 分类号： | G01N15/02 |
| 代理公司： | 沈阳优普达知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 21234 | 代理人： | 李晓光 |
| 地址： | 118009 辽宁省丹*** | 国省代码： | 辽宁;21 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 粒径分析 狭缝 颗粒计数器 高灵敏度 光阻法 激光光斑形状 最小二乘拟合 光束截面 理论模拟 粒径颗粒 遮挡信号 不均匀 归一化 检测区 探测器 光强 开窗 粒径 拟合 区时 照射 检测 应用 | ||
【权利要求书】：
1.一种光阻法颗粒计数器中的高灵敏度粒径分析方法，其特征在于包括以下步骤：
把照射到检测区的激光光斑形状改变为细狭缝型，或是在探测器前开窗为细狭缝型；
通过理论模拟出当不同粒径通过狭缝检测区时，产生的遮挡信号与信号的高度有关、宽度及形状之前的关系；
通过理论信号与实际测得的信号进行归一化之后的最小二乘拟合，主要拟合信号的宽度与形状来确定颗粒的大小。
2.按权利要求1所述的光阻法颗粒计数器中的高灵敏度粒径分析方法，其特征在于：模拟的条件为光束截面中光强的均匀分布，得出信号的高度和粒径成正比的结论。
3.按权利要求1所述的光阻法颗粒计数器中的高灵敏度粒径分析方法，其特征在于：检测区的细狭缝型激光光斑是在探测器前开窗为细狭缝型。
4.按权利要求3所述的光阻法颗粒计数器中的高灵敏度粒径分析方法，其特征在于：细狭缝宽为10～100微米。
5.按权利要求4所述的光阻法颗粒计数器中的高灵敏度粒径分析方法，其特征在于：细狭缝宽为35微米。
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