[发明专利]一种基于多光谱测量的亚像元温度分布测量装置及方法有效
| 申请号： | 201611110702.0 | 申请日： | 2016-12-06 |
| 公开（公告）号： | CN106556462B | 公开（公告）日： | 2018-06-12 |
| 发明（设计）人： | 符泰然;熊叶寒;姜培学 | 申请（专利权）人： | 清华大学 |
| 主分类号： | G01J5/00 | 分类号： | G01J5/00 |
| 代理公司： | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人： | 李相雨 |
| 地址： | 100084 北京市海*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 待测点 辐射 辐射光源 多光谱测量 温度分布 亚像元 波长 测量装置 测量 大温度梯度 高瞬态响应 开启状态 快速确定 强度确定 时间连续 在线测量 发射率 非接触 反射 | ||
【说明书】：
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于清华大学，未经清华大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201611110702.0/2.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种基于自适应光学的光谱成像装置
- 下一篇：电气设备表面温度的测量设备
