[发明专利]校正装置和应用该校正装置的校正方法

说明书

本发明实施例公开了一种校正装置和应用该校正装置的校正方法，校正装置用于校正工具，其包括：基座，包括收容部，收容部用于收容参考传感器与所述工具内目标传感器；控制器，与位于收容部内的所述参考传感器和目标传感器以及工具内处理器均电性连接，控制器用于：将参考传感器和目标传感器所采集到光线的数据做比对的结果作为校正系数；将校正系数写入处理器，处理器通过校正系数来校正从目标传感器获取到的数据。通过上述方案，处理器能够基于校正系数来校正目标传感器所采集到数据，而使得目标传感器所采集到的数据更准确。实现仅从软件层面做校正，不会对工具内硬件带来变化，大幅降低了校正成本，具有很强的应用前景。

技术领域

本发明涉及工具校正技术领域，特别涉及一种针对携带有传感器的工具的校正装置和应用该校正装置的校正方法。

背景技术

随着传感器技术的快速发展，利用传感器能够测量光色、照度等特性来制备诸如光色检测工具、照度检测工具或智能照明工具的需求越来越多。

然而，现有的传感器一般包括接收光线并识别出光线的光色或照度的传感器芯片、配合传感器芯片工作的处理器以及常规性的辅助电路，由于各个厂家所生成的传感器芯片的性能难以保持一致，并且辅助电路内例如电阻、三极管等电气元件的性能一致性也难以控制，使得各传感器的测量能力可能出现较大差异，这严重影响了携带有这些传感器的工具的正常使用。

因此，有必要提出一种针对携带有传感器的工具的校正装置和方法。

发明内容

本发明实施例的目的是提供一种校正装置和应用该校正装置的校正方法，用于校正携带有传感器的工具。

为解决上述技术问题，本发明实施例提供一种校正装置，用于校正工具，所述工具包括目标传感器以及与所述目标传感器电性连接的处理器，所述处理器用于获取并处理所述目标传感器所采集到的数据，校正装置包括：

基座，包括收容部，所述收容部用于收容参考传感器与所述工具内目标传感器；

控制器，与位于所述收容部内的所述参考传感器和目标传感器以及所述工具内处理器均电性连接，所述控制器用于：

将所述参考传感器和目标传感器所采集到光线的数据做比对，得到比对结果，作为校正系数；

将校正系数写入处理器，处理器通过校正系数来校正从目标传感器获取到的数据。

优选的，所述基座包括台面，所述收容部包括开设于所述台面的凹槽。

优选的，所述收容部的数量设置为两个，所述参考传感器和目标传感器分置于各收容部内。

优选的，所述校正装置还包括安装至所述基座上的发光组件，所述收容部位于所述发光组件下方，以使得位于所述收容部内的参考传感器与目标传感器均位于所述发光组件的照射下。

优选的，位于所述收容部内的参考传感器和目标传感器距离所述发光组件的距离相等。

优选的，所述发光组件包括至少三组发出不同光色和/或照度的光线的校正光源。

优选的，所述发光组件还包括连接所述至少三组校正光源的驱动电路，所述驱动电路被配置为依次点亮各组发光组件。

优选的，所述发光组件还包括覆盖于所述校正光源上的光学元件。

优选的，所述收容部内设置有与所述控制器电性连接的电连接器，所述电连接器用于与位于所述收容部内参考传感器和目标传感器电性连接，以将所述参考传感器和目标传感器与所述控制器电性连接。

为解决上述技术问题，本发明实施例提供一种基于前述发明内容所述的校正装置的校正方法，收容于校正装置内的参考传感器与目标传感器均位于发光组件的照射下，校正方法包括：