[发明专利]检测EEPROM读写功能的方法及装置有效
| 申请号： | 201611105411.2 | 申请日： | 2016-12-05 |
| 公开（公告）号： | CN108153637B | 公开（公告）日： | 2021-07-09 |
| 发明（设计）人： | 杜文华;李帅辉;杨树恒;王秋生 | 申请（专利权）人： | 武汉比亚迪汽车有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/26 | 分类号： | G06F11/26 |
| 代理公司： | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人： | 张润 |
| 地址： | 432200 湖北省*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 检测 eeprom 读写 功能 方法 装置 | ||
1.一种检测电可擦写只读存储器EEPROM读写功能的方法，其特征在于，包括：
在产品的印制电路板PCB装配完成后，获取所述PCB上EEPROM的存储空间；
对所述EEPROM的存储空间执行写检测；
在写检测成功后对所述EEPROM的存储空间执行读检测；
当检测成功后，在所述产品上下载面向市场的应用程序。
2.根据权利要求1所述的检测EEPROM读写功能的方法，其特征在于，还包括：
按照预设的次数对所述EEPROM进行读写功能的检测；
当预设的次数内均写检测和读检测成功，则返回检测成功指示。
3.根据权利要求2所述的检测EEPROM读写功能的方法，其特征在于，还包括：
在对所述EEPROM进行读写功能的检测的过程中，按照预设的时间间隔返回当前检测的进程指示。
4.根据权利要求3所述的检测EEPROM读写功能的方法，其特征在于，还包括：
在检测失败时，返回用于描述检测失败的相关信息，其中所述相关信息包括检测失败时对应的存储空间以及检测失败所对应的错误类型。
5.根据权利要求1-4任一项所述的检测EEPROM读写功能的方法，其特征在于，按照分布式的读写方式或阻塞式的读写方式对所述EEPROM进行读写功能检测。
6.一种检测EEPROM读写功能的装置，其特征在于，包括：
获取模块，用于在产品的印制电路板PCB装配完成后，获取所述PCB上EEPROM的存储空间；
检测模块，用于对所述EEPROM的存储空间执行写检测，以及在写检测成功后对所述EEPROM的存储空间执行读检测；
下载模块，用于当检测成功后，在所述产品上下载面向市场的应用程序。
7.根据权利要求6所述的检测EEPROM读写功能的装置，其特征在于，所述检测模块，具体用于：
按照预设的次数对所述EEPROM进行读写功能的检测；
当预设的次数内均写检测和读检测成功，则返回检测成功指示。
8.根据权利要求7所述的检测EEPROM读写功能的装置，其特征在于，所述检测的模块，还用于：
在对所述EEPROM进行读写功能的检测的过程中，按照预设的时间间隔返回当前检测的进程指示。
9.根据权利要求8所述的检测EEPROM读写功能的装置，其特征在于，所述检测模块，还用于在检测失败时，返回用于描述检测失败的相关信息，其中所述相关信息包括检测失败时对应的存储空间以及检测失败所对应的错误类型。
10.根据权利要求6-9任一项所述的检测EEPROM读写功能的装置，其特征在于，所述检测模块，具体用于按照分布式的读写方式或者阻塞式的读写方式对所述EEPROM进行读写功能检测。
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