[发明专利]一种非接触智能卡测试装置及测试方法

说明书

本发明涉及测试验证领域，针对实际应用中非接触智能卡与非接触读卡器通信过程中，易受到外界噪声干扰导致智能卡接收数据异常、通信失败的现象，提出了一种非接触智能卡测试装置及测试方法，该非接触智能卡测试装置包括：嵌入式处理器，读卡器模块，噪声生成模块，测试方法包括在读卡器发送正确数据的各个阶段加入噪声干扰，并测试非接触智能卡的抗干扰能力。在目前对于非接触智能卡性能要求越来越严苛的背景下，提高了非接触智能卡性能测试全面性。

技术领域

本发明涉及测试验证领域，提供了一种非接触智能卡测试装置及测试方法。

背景技术

随着非接触智能卡应用的普及，发卡量不断增长，对非接触智能卡的性能及可靠性要求越来越高，特别是非接触智能卡与非接触读卡器实际通信过程中，由于非接触技术本身的原因，非接触智能卡易受到外界噪声干扰导致智能卡不能有效接收读卡器发送的数据，造成通信失败。因此，对非接触智能卡的干扰测试也提出了更高要求。

现有的非接触智能卡测试读卡器仅能针对在通信信号的基础上添加固定干扰进行简单的干扰测试，但实际的应用环境多样，噪声信号的特征也比较复杂，现有的非接触智能卡测试读卡器并不能有效的进行非接触智能卡的干扰测试，达不到全面性的测试要求。

发明内容

针对现有的非接触智能卡测试读卡器的不足及实际测试需求，本发明提出了一种非接触智能卡测试装置及测试方法，能够模拟多种实际应用中的噪声对非接触智能卡进行干扰测试，提高了测试覆盖率，避免非接触智能卡由于测试不足导致的产品质量风险。

本发明提出了一种非接触智能卡测试装置，包括：嵌入式处理器、噪声生成模块和非接触读卡器模块。

嵌入式处理器与噪声生成模块连接，用于控制噪声生成模块开始产生信号，并用于配置噪声生成模块的噪声信号参数。

嵌入式处理器与非接触读卡器模块连接，用于配置非接触读卡器模块为正常传输模式或噪声传输模式，并用于配置非接触读卡器模块的噪声传输模式参数，还用于向非接触读卡器模块发送正常传输数据，并从非接触读卡器模块获取被测非接触智能卡响应数据。

噪声生成模块与非接触读卡器模块连接，用于向非接触读卡器模块发送噪声传输信号。

噪声生成模块可根据嵌入式处理器配置的噪声信号参数生成噪声信号，噪声信号参数包括：脉冲宽度、脉冲个数、脉冲极性。

非接触读卡器模块可根据嵌入式处理器配置为正常传输模式或噪声传输模式，在正常传输模式下，可接收嵌入式处理器发送的正常传输数据并调制后发送给被测非接触智能卡，在噪声传输模式下，可根据嵌入式处理器配置噪声模式参数，并根据噪声模式参数对噪声信号进行ASK调制，并发送给被测非接触智能卡，噪声模式参数为ASK调制深度，深度范围为0～100％。

应用非接触智能卡测试装置的测试方法为嵌入式处理器配置噪声生成模块的噪声信号参数后，嵌入式处理器配置非接触读卡器模块为正常传输模式，并向非接触读卡器模块发送正常传输数据，在非接触读卡器模块把正常数据发送给被测非接触智能卡的前后，嵌入式处理器配置非接触读卡器模块为噪声传输模式并配置噪声模式参数，同时嵌入式处理器控制噪声生成模块开始输出噪声，该噪声信号通过非接触读卡器模块调制后发送给被测非接触智能卡，嵌入式处理器通过非接触读卡器模块获取被测非接触智能卡返回数据，根据返回数据判断是否通过本次测试。

附图说明

图1表示本发明的特定实施例结构框图。

图2表示本发明的一种特定实施例测试流程图。

图3表示本发明的另一种特定实施例测试流程图。

图4表示本发明的另一种特定实施例测试流程图。

具体实施方式